詳細摘要: 這種掃描電鏡探測器的BSE探測器或背散射電子探測器,為掃描電子顯微鏡提供的信噪比和超高的分辨率,是SEM探測器中的產品
產品型號:FPCRY-sem-detector所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言
孚光精儀(中國)有限公司
詳細摘要: 這種掃描電鏡探測器的BSE探測器或背散射電子探測器,為掃描電子顯微鏡提供的信噪比和超高的分辨率,是SEM探測器中的產品
產品型號:FPCRY-sem-detector所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 我們的納米硬度計是進口納米硬度測試儀和納米硬度測量儀,通過掃描材料表面實現對材料力學性能的納米尺度的高精度測量,精確測量納米硬度,彈性模量,楊氏模量等材料力學性...
產品型號:FPNAN-4Dcom所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 手動多功能微型探針臺是一款手動多功能探針臺,可用于4晶圓或4x6.5印刷電路板
產品型號:FPd-coax-W4.0x L6.5所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 這款科研級大型手動探針臺一款專為半導體領域設計的大型晶圓探針臺,它可用于高達14半導體晶圓的測量,并在范圍內實現XYZ,theta多維控制
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產品型號:FPMIL-2008所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 這款探針臺定位器專業為探針臺定位應用而設計的高精度探針定位器或探針臺微操作器,也可用于其它精密光電儀器高精度定位
產品型號:FPMRC-EB-700所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 這款掃描近場光學顯微鏡SNOM融合了的掃描探針技術和光學顯微鏡技術,它把微型光學探針非常接近材料樣品表面,實現近場成像,獲得光學信息后提供的圖像分辨率可達100...
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產品型號:FPZEP-BOW所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 大面積掃描開爾文探針系統能夠在垂直方向移動開爾文探針實現電動控制開爾文探針與樣品的距離
產品型號:FPANF-AFT-KP150所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 這款單點開爾文探針系統用于室溫條件和普通實驗室條件下的開爾文掃描探針系統,KelvinProbeSystem.它具有極為緊湊結構,可安放到各種環境箱或防塵罩中
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產品型號:FPANG-SE200BA-M300所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長范圍,可與顯微分光光度計聯合使用,測量極小斑點的薄膜厚度和折射率,可廣泛用于MEMS,半導體晶圓等領域,...
產品型號:FPANG-SE200BA-MSP所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 這款手動光譜橢偏儀是一種手動變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍,手動改變入射角
產品型號:FPANG-SE200BM-M300所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 這款大型光譜橢偏儀SE200BM-M450具有450mm直徑樣品臺,提供更為安全的樣品操作和定位,具有250-850nm的波長范圍,是美國Angstrom公司為...
產品型號:FPANG-SE200BE-M450所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 這款光伏太陽能光譜橢偏儀專業為光伏太陽能領域的薄膜測量而開的手動光伏橢偏儀,這款光伏太陽能光譜橢偏儀為光伏薄膜測量研究提供便利,具有實時測量薄膜厚度和薄膜厚度繪...
產品型號:FPANG-SE200BE-solar所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 這款手動低價光譜橢偏儀是高性價比手動橢偏儀,它采用手動改變測角計入射角技術,相比于自動改變入射角的自動光譜橢偏儀價格更低
產品型號:FPANG-SE300BE所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 這款高級自動光譜橢偏儀是自動變角橢偏儀,能夠自動改變測角計入射角的spectroscopicellipsometer,角度改變步進高達0.01度,光譜范圍覆蓋2...
產品型號:FPANG-SE500BA所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 這款顯微薄膜測量儀是一款多功能薄膜測厚儀和顯微分光光度計,可以結合顯微鏡測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率以及測量薄膜熒光
產品型號:FRANG-MSP300所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 這款寬帶光學薄膜測厚儀是一款低價臺式光學薄膜厚度測量儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光等,這款寬帶光學薄膜厚度測量...
產品型號:FRANG-SR500所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言詳細摘要: 這款薄膜厚度均勻性測量儀采用光譜反射計技術測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數,獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數
產品型號:FPANG-SRM100所在地:更新時間:2021-08-19 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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