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顯微薄膜測量儀

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產品型號FRANG-MSP300

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更新時間：2021-08-19 12:30:50瀏覽次數：77次

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孚光精儀（中國）有限公司

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產品簡介

這款顯微薄膜測量儀是一款多功能薄膜測厚儀和顯微分光光度計，可以結合顯微鏡測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率以及測量薄膜熒光

詳細介紹

這款顯微薄膜測量儀是一款多功能薄膜測厚儀和顯微分光光度計，可以結合顯微鏡測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率以及測量薄膜熒光。這款顯微薄膜測試儀通過測量薄膜反射率快速測量薄膜厚度,測量薄膜光學常量(n &k)以及薄膜thick film stacks。
整套顯微薄膜測量儀的組成是：光柵光譜儀（200-1100nm)+顯微鏡目鏡適配器+軟件+顯微鏡（可選）。其中目鏡適配器包含鏡頭，可增加光的收集。標準的40X物鏡可做到測量點直徑約200微米。更高倍數的物鏡的測量點更小。

薄膜厚度測試儀軟件
這款薄膜測試儀配備專業的儀器控制，光譜測量和薄膜測量功能的軟件，具有廣闊的應用范圍。該薄膜厚度測試儀軟件能夠實時采集吸收率，透過率，反射率和熒光光譜，并且能夠能夠快速計算出結果。
對于吸收率/透過率模式的配置，所有的典型參數如 A, T可快速計算出來。其他的非標準參數，如signal integration也能測量出來。
對于反射率測量，該薄膜厚度測試儀軟件能夠精確測量膜層小于10層薄膜厚度（《10nm到100微米），光學常量（n & k)。
顯微薄膜測量儀標準參數
可測膜厚： 10nm-150微米；
波長范圍：200-1100nm
精度：0.5%
分辨率：0.02nm
光源：使用顯微鏡光源
光斑大小：由顯微鏡物鏡決定
計算機要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；
尺寸：120x120x120mm
重量：1.2kg

薄膜厚度測試儀應用
測量薄膜吸收率,透過率
測量化學薄膜和生物薄膜測量
光電子薄膜結構測量
半導體制造
聚合物測量
在線測量
光學鍍膜測量