詳細(xì)摘要： 高分辨率晶圓厚度測(cè)試儀能夠高精度測(cè)量硅晶圓厚度和硅晶圓厚度變化,分辨率高達(dá)10nm,可滿足不同的晶圓厚度范圍
產(chǎn)品型號(hào)：FPEH-MX10所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言孚光精儀（中國(guó)）有限公司
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孚光精儀（中國(guó)）有限公司
經(jīng)營(yíng)模式：經(jīng)銷(xiāo)商
商鋪產(chǎn)品：1482條
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聯(lián)系人：陳小姐 （銷(xiāo)售）
詳細(xì)摘要： 高分辨率晶圓厚度測(cè)試儀能夠高精度測(cè)量硅晶圓厚度和硅晶圓厚度變化,分辨率高達(dá)10nm,可滿足不同的晶圓厚度范圍
產(chǎn)品型號(hào)：FPEH-MX10所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 晶圓翹曲度厚度測(cè)試儀是專(zhuān)業(yè)為晶圓翹曲度測(cè)量和晶圓厚度測(cè)量設(shè)計(jì)的晶圓厚度翹曲度測(cè)量?jī)x器
產(chǎn)品型號(hào)：FPEH-MX20所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 單點(diǎn)硅片測(cè)厚儀是采用單點(diǎn)測(cè)厚技術(shù)為硅晶圓厚度測(cè)量設(shè)計(jì)的硅晶圓測(cè)厚儀器
產(chǎn)品型號(hào)：FPEH0-MX30所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 晶圓電阻率測(cè)試儀采用非接觸方式測(cè)量晶圓電阻率,測(cè)量P/N類(lèi)型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的SheetResistance測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)：FPEH-MX60所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 單晶多晶硅片壽命測(cè)試儀是專(zhuān)用為晶圓品質(zhì)檢驗(yàn),測(cè)量少子壽命,測(cè)量光電導(dǎo)率和電阻率等研發(fā)的晶圓壽命測(cè)試儀器
產(chǎn)品型號(hào)：FPFRE-MDPMap所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 單點(diǎn)少子壽命測(cè)量?jī)x系統(tǒng)是經(jīng)濟(jì)型晶圓壽命測(cè)量?jī)x器,對(duì)不同制備階段的硅材料電學(xué)參數(shù)進(jìn)行表征
產(chǎn)品型號(hào)：FPFRE-MDPspot所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 微波探測(cè)光致電流瞬態(tài)譜儀采用微波技術(shù)探測(cè)材料的光生電流瞬態(tài)光譜值,非常適合溫度依賴(lài)的少子壽命測(cè)量和半導(dǎo)體界面陷阱
產(chǎn)品型號(hào)：FPFRE-MDpicts所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 晶圓晶錠壽命測(cè)定儀是為晶圓晶錠測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查任務(wù)設(shè)計(jì)的晶圓晶錠少子壽命測(cè)試儀器
產(chǎn)品型號(hào)：FPFRE-mdppro所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 多功能翹曲度測(cè)定儀是一款多參數(shù)翹曲度測(cè)試儀器,可以測(cè)量PCB,IC等翹曲度,應(yīng)變等參數(shù),更可以檢測(cè)隨溫度變化的翹曲度值
產(chǎn)品型號(hào)：FPTDM-compact3所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款四探針電阻率電導(dǎo)率計(jì)可快速測(cè)量材料的薄層電阻,方塊電阻,sheetresistance電阻率和電導(dǎo)率,適合多種材料和樣品測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)：FPOSS-FOURPOINT所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款微探針系統(tǒng)microprobe是為材料光學(xué)特性和電特性測(cè)試設(shè)計(jì)的納米級(jí)微納探針儀器,可以結(jié)合顯微鏡,光譜儀等儀器在各種環(huán)境條件下現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試材料電學(xué)和光學(xué)特性,...
產(chǎn)品型號(hào)：FPNEX-MICRO所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 納米操縱系統(tǒng)采用納米探針模塊nanoprober為顯微鏡或電鏡下微納操作提供納米級(jí)微操縱方案,非常適合SEM和各種電鏡樣品微操作使用
產(chǎn)品型號(hào)：FPIMI-NANO所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 微探針臺(tái)系統(tǒng)microprobesystem可植入顯微鏡中,把顯微鏡改造成探針臺(tái)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)微操作和微測(cè)量功能
產(chǎn)品型號(hào)：FPIMI-Micro所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款半自動(dòng)探針臺(tái)廣泛用作電動(dòng)分析探針臺(tái)和半自動(dòng)晶圓探針臺(tái),可測(cè)試200mm晶圓,采用重型多功能探針臺(tái)平臺(tái)制造,配置靈活多樣,具有加熱制冷晶圓夾盤(pán)chuck,體式...
產(chǎn)品型號(hào)：FPMIC-SPS-2800所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 激光切割分析探針臺(tái)集成分析探針臺(tái)和半導(dǎo)體激光修調(diào)trimming系統(tǒng),適合半導(dǎo)體分析切割,失效分析,半導(dǎo)體修調(diào)trimming,結(jié)構(gòu)層移除,標(biāo)記等諸多應(yīng)用
產(chǎn)品型號(hào)：FPMIC-lcs-4000所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款閉循環(huán)低溫真空探針臺(tái)是半自動(dòng)低溫真空探針臺(tái),可在低溫單CCR系統(tǒng)9K，雙CCR系統(tǒng)4.5K和三CCR系統(tǒng)低于4K溫度下測(cè)試經(jīng)驗(yàn)和器件
產(chǎn)品型號(hào)：FPMIC-CPS-XXX-CF-PLUS所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款高溫探針臺(tái)是為高溫環(huán)境器件測(cè)試或真空環(huán)境或氣體環(huán)境器件探針臺(tái)分析測(cè)試而設(shè)計(jì)
產(chǎn)品型號(hào)：FPMIC-CPS-HT所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款磁探針臺(tái)可提供三維磁場(chǎng)控制,滿足磁性控制RF探針測(cè)試應(yīng)用.作為磁場(chǎng)探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)了平面磁場(chǎng)的任意操控,方便自旋電子器件探針測(cè)試.磁探針臺(tái)特點(diǎn)提供使用磁場(chǎng)的任意三...
產(chǎn)品型號(hào)：FPMIC-MPS-350所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款半自動(dòng)真空探針臺(tái)SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探針系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于支持在真空或受控氣體環(huán)境中對(duì)多達(dá)100mm...
產(chǎn)品型號(hào)：FPMIC-SPS-2600所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 無(wú)氦低溫探針臺(tái)CPS-CF是為極低溫探針測(cè)試設(shè)計(jì)的閉循環(huán)低溫探針臺(tái)系統(tǒng),適合低溫下對(duì)器件和電路進(jìn)行探針測(cè)試
產(chǎn)品型號(hào)：FPMIC-CPS-CF所在地：更新時(shí)間：2021-08-16 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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