詳細摘要： 薄膜應力測量儀TohoFLX提供熱循環和環境自動旋轉型號,可對各種薄膜和襯底進行準確的應力測量,確定和分析沉積薄膜引起的表面應力
產品型號：FPTOH-FLX所在地：更新時間：2023-09-12 在線留言孚光精儀（中國）有限公司
孚光精儀（中國）有限公司
詳細摘要： 薄膜應力測量儀TohoFLX提供熱循環和環境自動旋轉型號,可對各種薄膜和襯底進行準確的應力測量,確定和分析沉積薄膜引起的表面應力
產品型號：FPTOH-FLX所在地：更新時間：2023-09-12 在線留言
詳細摘要： 3D光學輪廓儀是具有白光干涉和相移干涉技術的表面形貌儀,具有高掃描速度,垂直分辨率高達亞納米0.1nm,從而具有三維臺階儀功能
產品型號：FPNAN-NV所在地：更新時間：2023-09-12 在線留言
詳細摘要： 形貌輪廓激光顯微鏡是采用激光顯微鏡技術的表面輪廓形貌儀器,具有白光共聚焦,激光共聚焦,差分干涉對比,白光干涉,相移干涉法和光譜反射薄膜厚度測量6種表面形貌輪廓測...
產品型號：FPLAS-Hybrid所在地：更新時間：2023-09-12 在線留言
詳細摘要： 這款多功能掃描探針顯微鏡SPM是歐盟革命性的高分辨率掃描探針顯微鏡和SPM顯微鏡,具有目前為緊湊結構,是進口掃描探針顯微鏡品牌,SPM顯微鏡品牌中掃描探針顯微鏡...
產品型號：FPAPE-SPM所在地：更新時間：2023-04-13 在線留言
詳細摘要： 這款原子力顯微鏡AFM,AtomicForceMicroscope具有SPM顯微鏡模式，是進口高精度原子力顯微鏡品牌中原子的AFM顯微鏡產品
產品型號：FPAPE-AFM-A100所在地：更新時間：2023-04-13 在線留言
詳細摘要： 這款緊湊掃描隧道顯微鏡STM是探索不同材料表面以原子尺度分辨率測試納米表面形貌和光譜信息的有力STM顯微鏡工具
產品型號：FPAPE-STM所在地：更新時間：2023-04-13 在線留言
詳細摘要： 高速原子力顯微鏡是專業為科研單位設計的經濟型多功能AFM顯微鏡,它適合所有應用并給出磁力顯微鏡模式,電力顯微鏡模式,納米光刻模式,彈性力顯微鏡模式等*功能,在進...
產品型號：FPANF-LevelAFM所在地：更新時間：2023-04-13 在線留言
詳細摘要： LCD驅動芯片檢測系統和LCD驅動芯片視覺檢測系統快速發現LCDDriverIC缺陷，由孚光精儀進口銷售，孚光精儀的進口光學精密儀器旗艦型服務商！精通光學，服務...
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詳細摘要： 光學鍍膜檢測儀PHOTONRTUV-VIS-MWIR是為光學鍍膜分析檢測設計的鍍膜掃描分光光度計,滿足光學樣品的無人值守薄膜測量
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詳細摘要： 晶圓光致發光和缺陷檢測系統Imperia系統可檢測并分類晶圓缺陷,實現光致發光（PL）生產監控
產品型號：FPONT-Imperia所在地：更新時間：2023-03-30 在線留言
詳細摘要： 全波段光致發光測量系統RPMBlue系統是為半導體化合物襯底晶圓光致發光檢測而涉及,在整個波長范圍內提供準確的PL光譜mapping計量,可用于GaNFET和U...
產品型號：FPONT-RPMBlue所在地：更新時間：2023-03-30 在線留言
詳細摘要： 這款晶圓測厚儀MX30x是為半導體晶圓特性測量設計的進口晶圓厚度測量儀器,可快速測量晶圓厚度,晶圓電阻率和晶圓P/N等值
產品型號：FPEH-metrology所在地：更新時間：2023-03-30 在線留言
詳細摘要： 高分辨率晶圓厚度和厚度變化測量儀MX10x系列是E+Hmetrology測量硅片厚度和TTV厚度變化的儀器
產品型號：FPEH-MX10x所在地：更新時間：2023-03-30 在線留言
詳細摘要： 這款多功能晶圓翹曲度測量儀是為晶圓生產線上自動晶圓翹曲度測量設計的大型自動晶圓測量儀器,具有晶圓厚度測量,晶圓翹曲度測量,晶圓BOW/WARP測量,晶圓wave...
產品型號：FPEH-MX70X所在地：更新時間：2023-03-30 在線留言
詳細摘要： 晶圓分揀機器人是為大尺寸晶圓硅片分揀分選設計的自動晶圓分揀機系統，可分選高達12尺寸晶圓
產品型號：FPEH-Robot Sorter所在地：更新時間：2023-03-30 在線留言
詳細摘要： 帶式晶圓分選機beltsorter是專業為晶圓硅片分選設計的皮帶式晶圓硅片分選機,可適合8晶圓分選分揀,非常適合晶圓硅片的生產測試
產品型號：FPEH+beltsorter所在地：更新時間：2023-03-30 在線留言
詳細摘要： 開爾文探針系統KelvinProbe可用于光電化學中,精確測量不同半導體和導電材料的功函數，精度高
產品型號：FPPRI-Kelvin Probe所在地：更新時間：2023-03-30 在線留言
詳細摘要： 微操作儀系統AxisProFC是為各種實驗微操作設計的微納操作儀器,電控制所有操作
產品型號：FPMIC-Axis-Pro-FC所在地：更新時間：2023-03-30 在線留言
詳細摘要： 半自動高低溫探針臺采用signatone探針臺技術實現300mm尺寸晶圓探針臺測試,屬于半自動RF/DC/CV測試高功率探針臺
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詳細摘要： 大型自動光學檢測系統AOI是為14晶圓光學檢測設計的自動光學檢測機器,非常適合微電子與半導體檢測,自動光學檢測晶圓、芯片、引線鍵合等
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