摘要 SuperViewW非接觸式光學3D表面形貌測量系統以白光干涉技術為原理，能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

摘要 光學透過率測量儀（可見光）升級型號LS183 型號:XB12/LS183 庫號：M321341

摘要 立式光學計 鋁箔包裝薄膜厚度光學測量儀 光學紙張厚度測量儀 圓柱球形線形物體厚度測量儀型號BXS10-LS本儀器通過兩咱測量方式，目鏡讀數和投影讀數，是采用量塊或標準零件與試件相比較的方式測量物體外形尺寸的儀器。

摘要 激光物理光學實驗器 光柵衍射物理光學實驗分析儀 光學實驗測量儀1、本產品利用擴展的分劃板附件實現小孔、單縫和單絲的衍射。2、不同寬度和間隔雙縫的干涉,泊松斑現象以及光柵衍射等各種物理光學實驗。

摘要 SuperViewW光學摩擦磨損形貌輪廓測量儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器，它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點。

摘要VX8000全自動閃測儀光學圖像測量儀是使用一種新型影像測量技術的精密測量儀器，其一鍵測量二維平面尺寸測量，或是搭載光學非接觸式測頭實現高度尺寸、平面度等參數的精密快速測量。適用于要求批量測量或自動測量的應用場景，如電子PCB測量、五金零部件檢測、橡膠圈尺寸測量、手機...

摘要 Novator系列國產光學影像測量儀品牌采用高精度光學成像技術和計算機數字處理技術，能夠快速、準確地獲取三維物體表面形態信息，并進行精密的尺寸、角度等多項測量數據的分析和處理。

摘要 SuperViewW1光學三維輪廓測量儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。數秒內可以獲得平面和曲面表面上測量所有常見的粗糙度參數。也可以選擇拼接功能軟件升級來組合多個影像以提供大面積測量。

摘要Novator系列三坐標光學影像測量儀是一種全自動影像測量儀，采用高精度光學成像技術和計算機數字處理技術，能夠快速、準確地獲取三維物體表面形態信息，并進行精密的尺寸、角度等多項測量數據的分析和處理。不僅實現了對工件的形狀、長寬高、等數據的體現，同時對工件的表面平整度也...

摘要Novator系列光學影像測量儀具有X、Y、Z方向高精度測量能力，重復性精度1μm；支持點激光輪廓掃描測量以及線激光3D掃描成像，進行高度方向上的輪廓測量，實現3D掃描成像和空間測量。還支持頻閃照明和飛拍功能，可進行高速測量，大幅提升測量效率；具有可獨立升降和可更換R...

摘要 SuperViewW1白光干涉光學測量儀以白光干涉技術為原理，能夠以優于納米級的分辨率，測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數，廣泛應用于光學，半導體，材料，精密機械等等領域。是一款非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器。

摘要 數字式立式光學計 光學紙張厚度檢測儀 鋁箔薄膜厚度光學測量儀 鋼球線形物體厚度檢測儀型號BXS16-XGJ本儀器是一般是用標準器以比較法測量工作的尺寸。

摘要 數字式立式光學計 光學紙張厚度檢測儀 鋁箔薄膜厚度光學測量儀 鋼球線形物體厚度檢測儀型號BXS16-XGJ

摘要 立式光學計 鋁箔包裝薄膜厚度光學測量儀 光學紙張厚度測量儀 圓柱球形線形物體厚度測量儀型號BXS10-LS本儀器通過兩咱測量方式，目鏡讀數和投影讀數，是采用量塊或標準零件與試件相比較的方式測量物體外形尺寸的儀器。

摘要光譜測量型微弱化學發光與 生物發光測量儀 微弱發光測試儀本型號特點是可以測量微弱發光的光譜特性。樣品室有濾片抽屜，提供干涉濾光片從400nm-620nm，共十五片，波長間隔15-20nm,濾片透過曲線半寬度12nm,535nm透過率70-80%。軟件進行光譜響應和濾片...

摘要測量表面形貌的新標準隨著材料不斷趨向平坦化、薄膜化及結構的微細化，人們開始要求比傳統的普通SPM（掃描探針顯微鏡）、觸針式粗糙度測量儀及激光顯微鏡等產品更高的測量精度。相比較利用光干涉原理的白光干涉掃描顯微鏡，納米尺度3D光學干涉測量系統VS1800，使用更方便，測量...

摘要 相關介紹光學傳遞函數（opticaltransferfunction）是指以空間頻率為變量，表征成像過程中調制度和橫向相移的相對變化的函數

摘要 熱釋光探測器退火爐是對熱釋光探測器進行熱處理的設備，用于熱釋光探測器使用前和照射后的熱處理。使用前的熱處理用于消除探測器的殘余劑量，恢復探測器的初始靈敏度和發光曲線的形狀；照后低溫退火用于消除探測器的低溫峰，縮短測量周期，多用于大批量探測器的測量。

摘要 采用全新的多視角360度結構設計，真正實現了足部的完整掃描，3—5秒內重建出足部高精度3D數據，并自動輸出測評結果，一鍵式觸控操作讓店員或者客戶輕松掌控！

摘要 筆記本臺式顯示器成品和模組光學測量系統FS-TR系列、FS-VTA系列均可以滿足筆記本和臺式顯示器的光學特性測量。與手機屏測試不同之處在于，除了機臺尺寸增加之外，在顯示器測量標準和測試項目上也進行了擴展。

摘要 祼眼3D顯示器和電視光學特性測量系統符合標準。

摘要 眼鏡式顯示器和電視光學特性測量系統符合標準。

摘要 大尺寸背光模組導光板擴散膜光學測量系統測試背光模組或導光板、擴散膜的亮度、色度、亮度均勻性等。可自動模擬生成整個面板的發光趨勢與分布圖。可支持110英寸背光模組的光學測試。分為直立式測量FS-AT系列和平躺式測量FS-G系列。

摘要 中小尺寸背模組光學測量系統 測試背光模組或導光板、擴散膜的亮度、色度、亮度均勻性等。可自動模擬生成整個面板的發光趨勢與分布圖。

摘要大型LCD和LCM光學測量系統價格LCD顯示器光學測量系統是我們靈活的光學性能測試解決方案，可擴展您的顯示測量的需要。無論你是需要測試工程開發用的手機顯示模塊、背光模組、顯示應用測試、還是生產上的QC/QA測量，我們的光學測量系統都能為你提供解決方案。所有DM系列系統...

摘要 中型LCD和LCM光學測量系統價格LCD 光學測量系統是我們靈活的光學性能測試解決方案，可擴展您的顯示測量的需要。無論你是需要測試工程開發用的手機顯示模塊、背光模組、顯示應用測試、還是生產上的QC/QA測量，我們的光學測量系統都能為你提供解決方案。

摘要 小型LCD和LCM光學測量系統價格LCD光學測量系統是我們靈活的光學性能測試解決方案，可擴展您的顯示測量的需要。無論你是需要測試工程開發用的手機顯示模塊、背光模組、顯示應用測試、還是生產上的QC/QA測量，我們的光學測量系統都能為你提供解決方案。

摘要中大型直立式BLU光學測量系統價格中大型直立式BLU光學測量系統，搭載亮度計主要進行背光模組亮度和色彩均勻性測量。其目的是為LCD、PDP、OLED和LED顯示屏，以及LED、CCFL背光的研發，提供準確的光學性能測量數據；主要用于實驗室、工程研發以及QA/QC等相關...

摘要中大型平躺式BLU光學測量系統價格中大型平躺式BLU光學測量系統，搭載亮度計主要進行背光模組亮度和色彩均勻性測量。其目的是為LCD、PDP、OLED和LED顯示屏，以及LED、CCFL背光的研發，提供準確的光學性能測量數據；主要用于實驗室、工程研發以及QA/QC等相關...

摘要 小型BLU光學測量系統價格小型LCD＆BLU光學測量系統，搭載亮度計主要進行背光模組亮度和色彩均勻性測量。其目的是為LCD、PDP、OLED和LED顯示屏，以及LED、CCFL背光的研發，提供準確的光學性能測量數據；主要用于實驗室、工程研發以及QA/QC等相關部門。

摘要 在不同的行業,都有對透光率測試的需求.需要測試透光率的產品形態各異,對于測試儀器的選擇也是各不相同.透過率測試儀廠家林上科技教你如何選擇合適的光學透過率測試儀.

摘要 MTL500是意大利VICI公司推出的集光、機、電子和計算機為一體的非接觸精密測量系統，專門為回轉體軸類零件的檢測提供全面的測量方案。從直徑0.3mm到60mm, 長度為500mm范圍內的回轉體軸類零件的檢測均可輕松完成！

摘要 MTL500是意大利VICI公司推出的集光、機、電子和計算機為一體的非接觸精密測量系統，專門為回轉體軸類零件的檢測提供全面的測量方案。從直徑0.3mm到60mm, 長度為500mm范圍內的回轉體軸類零件的檢測均可輕松完成！

摘要 MTL500是意大利VICI公司推出的集光、機、電子和計算機為一體的非接觸精密測量系統，專門為回轉體軸類零件的檢測提供全面的測量方案。從直徑0.3mm到60mm, 長度為500mm范圍內的回轉體軸類零件的檢測均可輕松完成！

摘要 MTL500是意大利VICI公司推出的集光、機、電子和計算機為一體的非接觸精密測量系統，專門為回轉體軸類零件的檢測提供全面的測量方案。從直徑0.3mm到60mm, 長度為500mm范圍內的回轉體軸類零件的檢測均可輕松完成！

摘要蘇州馬路科技提供高精度3D檢測儀 ATOS Triple Scan 三維掃描儀價格，ATOS Triple Scan 測量系統采用的是 GOM 公司專門研發的測量和投影技術。德國GOM高精度3D光學量測儀ATOS Triple Scan三維掃描儀價格，提高了測量復雜...

摘要德國GOM中小型工件3D光學量測儀 ATOS cor如今，由于零部件形狀和功能的復雜程度日益增加，對小型零部件進行掃描、分析以及檢測的重要性也不段提高。為此，專門針對諸如陶瓷型芯、鑄型和塑料件等小中型零部件的計量，GOM 公司研發并推出了 ATOS Core 系統。這...

摘要 HCParalMAT型 電子式光學平行差測量儀采用光學自準直儀原理及高精度數字圖像處理技術完成對光學平晶、光學窗口或光楔的平行差測量，測量軟件可同時對兩個正交方向的平行差或zui大值進行測量，提供±1.0角秒的測量精度。

摘要 DM-205/DM-210背光模組光學自動測量系統DM-205/210光學自動測量系統簡介DM-205/210光學自動測量系統是用于10英寸（DM-205）/20英寸（DM-210）以下的背光模組、導光板、手機屏、平板顯示器，OLED顯示屏等的光學特性測量的系統。

摘要DM-510平面顯示器光學特性測量系統 選配型封閉式DM-510平面顯示器光學特性測量系統簡介DM-510光學特性測量系統是用于14英寸以下的LCM模組、手機屏、平板顯示器，OLED顯示屏等的光學特性測量的系統，符合VESA FPDM2.0、TCO06、ISO924...

摘要DM-510平面顯示器光學特性測量系統DM-510平面顯示器光學特性測量系統簡介DM-510光學特性測量系統是用于14英寸以下的LCM模組、手機屏、平板顯示器，OLED顯示屏等的光學特性測量的系統，符合VESA FPDM2.0、TCO06、ISO9241、SJ/T-...

摘要 臺式光學透過率測量儀LS108H專業用于手機鏡片，玻璃，鍍膜材料，有機材料，涂料等透光物質的光學透過率測試。

摘要 光學透過率測量儀專業用于玻璃，鍍膜材料，有機材料，涂料，太陽膜等透光物質的光學透過率測試。適用于單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃），貼膜玻璃，PMMA材料，ＰＣ材料等的光學性能測試。

摘要LS183光學透過率測量儀測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數表示。 LS183專業用于玻璃，鍍膜材料，有機材料，涂料，太陽膜等透光物...

摘要 LS183光學透過率測量儀測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數表示。