摘要 CEM3000大樣品倉臺式掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析，臺式掃描電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。

摘要 不同于立式電鏡，CEM3000國內高分辨率臺式掃描電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。

摘要 光伏組件檢測儀內置存儲空間，可以保存大量的EL圖像。通常采用可充電鋰電池供電，保證長時間工作。

摘要 el缺陷檢測儀支持連續拍攝模式，可以在短時間內完成多塊組件的檢測。配備高靈敏度的攝像頭，能夠清晰地顯示細微的缺陷。

摘要 光伏板檢測儀器通常配有觸摸屏或簡單的按鈕控制，方便設置參數和啟動檢測。能夠迅速獲取高質量的EL圖像，提高工作效率。

摘要 便攜式el檢測儀設計輕巧，便于攜帶到不同地點進行現場檢測。適合于戶外作業，適用于各種安裝環境下的光伏系統檢查。

摘要 SuperViewW非接觸式3D白光干涉儀基于白光干涉原理，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數。

摘要 SuperViewW白光干涉微觀三維形貌測量儀測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

摘要 SuperViewW納米級微觀三維形貌3D白光干涉儀主要用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。它能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。

摘要 SuperViewW高精度納米量級白光干涉測量儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

摘要 中圖儀器白光干涉儀國產三維形貌儀SuperViewW是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。

摘要 德國OWIS光學支架26.060.3803可用于所有方向手動翻轉鏡架，適用于 ø 38.1 mm (1.5“) x 6 mm，向右偏轉

摘要 德國OWIS光學支架26.045.2603提供優異的穩定性手動翻轉鏡架，適用于 ø 25 mm / 25.4 mm (1“) x 5 mm，向左偏轉

摘要 德國OWIS光學支架26.040.2603具有高精度的角度調整能力手動翻轉鏡架，適用于 ø 25 mm / 25.4 mm (1“) x 5 mm，向右偏轉

摘要 德國OWIS光學支架26.025.1303也可提供電動版本手動翻轉鏡架，適用于 ø 12.5 mm / 12.7 mm (0.5“) x 3 mm，向左偏轉

摘要 德國OWIS光學支架26.020.1303可從任何方向插入手動翻轉鏡架，適用于 ø 12.5 mm / 12.7 mm (0.5“) x 3 mm，向右偏轉

摘要 德國OWIS光學支架14.110.0035適應不同實驗需求用于安裝直徑 35 毫米光學器件的支架

摘要 德國OWIS光學支架14.110.0030耐蝕性較差用于安裝直徑 30 毫米光學器件的支架

摘要 德國OWIS光學支架14.110.0025可提供其他直徑的夾頭用于安裝直徑 25 毫米光學器件的支架

摘要 德國OWIS光學支架14.110.0000廣泛應用于光學實驗室用于安裝光學器件的支架，帶中心孔和 M4 攻絲孔

摘要 德國OWIS光學支架26.065.3803適用于多種光學元件手動翻轉鏡架，適用于 ø 38.1 mm (1.5“) x 6 mm，向左偏轉

摘要 德國OWIS光學支架19.100.0076實現光學系統的校準用于未安裝光學器件的光學器件支架 ø 75 mm / 76.2 mm (3“)

摘要 德國OWIS光學支架16.202.0056夾緊直徑為56mmXY 調節安裝板，帶 2 個細牙螺釘，用于安裝光學元件 ø 56 mm

摘要 德國OWIS光學支架16.202.0045帶2個細牙螺釘XY 調節安裝板，帶 2 個細牙螺釘，用于安裝光學元件 ø 45 毫米

摘要 德國OWIS光學支架16.100.0050有效保護光學元件用于直徑 50 毫米/50.8 毫米（2 英寸）未安裝光學元件的支架，包括夾緊環

摘要 德國OWIS光學支架16.100.0040方便地組裝和拆卸用于直徑 40 毫米/38.1 毫米（1.5 英寸）未安裝光學器件的支架，包括夾緊環

摘要 德國OWIS光學支架14.202.0026用于固定安裝的光學器件XY 調節安裝板，帶 2 個細牙螺釘，用于安裝光學器件 ø 25.4 mm (1“)

摘要 德國OWIS光學支架14.202.0025可安裝在銷軸上XY 調節安裝板，帶 2 個細牙螺釘，用于安裝光學元件 ø 25 毫米

摘要 德國OWIS光學支架14.100.0032具有良好的穩定性用于直徑 31.5 毫米未安裝光學元件的支架，包括夾緊環

摘要 德國OWIS光學支架14.100.0025與SYS 40一起使用用于直徑 25 毫米/25.4 毫米（1 英寸）未安裝光學元件的支架，包括夾緊環

摘要 德國OWIS光學支架14.100.0022黑色陽極氧化處理用于直徑 22.4 毫米未安裝光學元件的支架，包括夾緊環

摘要 中圖儀器SuperViewW白光三維測量系統基于白光干涉原理，能以3D非接觸方式對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。

摘要 中圖儀器SuperViewW1白光干涉膜厚儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

摘要 SuperViewW1國產自研白光干涉三維形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

摘要 中圖儀器SuperViewW1納米級白光干涉儀是一款專用于超精密加工領域的光學檢測儀器，主要用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。

摘要 中圖儀器白光干涉儀廠家SuperViewW1可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中。

摘要中圖儀器SuperViewW1光學三維表面形貌儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量?？蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據ISO/ASME/E...

摘要SuperViewW1中圖光學3D表面輪廓儀器基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸，可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研...

摘要SuperViewW1白光干涉儀半導體測量儀器具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，具有的測量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，...

摘要 SuperViewW系列3d白光干涉儀是以白光干涉技術原理，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，是一款用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的納米級測量儀器。

摘要 SuperViewW1光學形貌輪廓儀測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣，是一款利用光學干涉原理研制開發的超精細表面輪廓測量儀器。測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內，確保了高款率檢測。其特殊光源模式可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

摘要 SuperViewW1光學白光干涉儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

摘要CHUO中央精機直線度測量機調直器TC-3 自準直儀：LAC-DP-SA,LAC-SA,C-59L,C-60L,HAC- 1,LAC-MRB-S,LAC-MRA-S,LAC-AJB,LAC-TRA-S,LAC-POL-8,LAC-POL-12,LAC-PP,LAC-P...

摘要 SuperViewW1光學三維輪廓儀檢測儀器對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。

摘要 SuperViewW1三維白光輪廓儀以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌3D測量。