美國semisonsoft公司的薄膜測厚儀測量厚度可以低至1nm,厚至1mm,埃級分辨率,非接觸式無損快速測量。廣泛的應用與各種生產或研究中,比如測量薄膜太陽能電池的CIGS層,觸摸屏中的ITO層等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。比如:半導體(硅,單晶硅,多晶硅)半導體化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS)微電子機械(MEMS)氧化物/氮化物光刻膠硬涂層(碳化硅,類金剛石炭)聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)高分子聚合物我們非常樂意與您討論有光薄膜的任何問題,希望我們多年的薄膜厚度測量經驗能解決您所遇到的薄膜厚度測量問題。