摘要 KETT膜厚計L500科學研究所LH-373渦流膜厚計膜厚計L500，探釷EP-100，HP-100，電磁式膜厚計LE-373，渦流膜厚計LH-373，雙聯式膜厚計Z-373，雙重型膜厚計LZ990

摘要 Positest DFT-F簡易經濟型膜厚計 美國DEFELSKO品牌：美國DEFELSKO型號：Positest DFT-F名稱：簡易經濟型膜厚計功能：測量涂層的厚度

摘要 銷售AsahiSpectra朝日分光、光學式膜厚計在測量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可視光，這時光的一部分在膜的表面反射，另一部分透進薄膜，然后在膜與底層 （wafer或glass）之間的界面反射。

摘要 濕膜厚度規/濕膜厚度計 型號：DP-SHG濕膜厚度規/濕膜厚度計 說明： DP-SHG濕膜厚度規用于測量色漆、清漆等各種涂料在施工時涂層厚度的工具。各種涂料施工后，立即將濕膜厚度規穩定垂直地放在平整的工件涂層表面，立即可測得涂層厚度。

摘要 日本KETT涂層測厚儀小巧、實用，用于無損、快速、精確的測量涂層、鍍層厚度。

摘要 復合膜厚度檢測儀 金屬片厚度測量儀 膜厚計采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

摘要 產品描述　　CT-2電解膜厚計-廣泛應用于汽機車及自行車業、電鍍業、電子業、品檢單位CT-2電解膜厚計特點:　　1.內藏微電腦，具有自我診斷機能

摘要 產品描述　　CT-4電解式膜厚計廣泛應用于汽機自行車業、機械五金、電鍍業、實驗室品檢單位進行電鍍層測量使用

摘要簡單介紹： CT-2電解式膜厚計： CT-2:1.解析度：0.001um。2.鍍層多可設定四層，可各層各別統計處理列印。3.合金屬及線材測試具體有自動演算，有直讀功能。4.符合ISO、JIS、ASTM、MIL、DI...

摘要簡單介紹： 熒光X線膜厚計COSMOS-1X適合測定物精良的測定條件設定（高精度測定）采用二種濾波器采用數位式濾波器外另有機械式濾波器（兩種濾波器）在測不定期時，若是適當的條件下，經常可得到高的精度。準值儀5種孔徑...

摘要簡單介紹： QuaNix 8500電磁式膜厚計：方便單手操作 外殼堅固耐用,適用于現場操作 模塊化插入式測頭附**卡榫 校正及操作界面簡單 可依照使用者需求設定界面 USB 無線雙向傳輸 簡易的操作菜單...

摘要 PHASCOPE PMP10 DUPLEX 可無損測量鋼鐵上雙涂層（鍍鋅再鍍漆）厚度的手持式儀器。PHASCOPE PMP10 DUPLEX用于快速、準確的測量雙層涂層厚度（同時測量鋅和油漆或鋁和油漆 。

摘要 PHASCOPE PMP10 測厚儀手持式儀器，PHASCOPE PMP10 測厚儀用于非破壞性的測量多種基材上的，PHASCOPE PMP10 測厚儀包括小型結構和粗糙表面上的導電涂層的厚度。

摘要 FMP150 德國Fischer測厚儀配有彩色可觸摸屏的，FMP150 德國Fischer測厚儀可無損測量幾乎所有金屬上涂層的高級型手持式儀器。FMP150 德國Fischer測厚儀大容量內存，可存儲數千個有不同校準的應用程式。

摘要 FMP100 德國Fischer測厚儀配有彩色可觸摸屏的，FMP100 德國Fischer測厚儀可無損測量幾乎所有金屬上涂層的高級型手持式儀器。FMP100 德國Fischer測厚儀大容量內存，可存儲數千個有不同校準的應用程式。

摘要 FMP40 德國Fischer涂層測厚儀方便的手持儀器，FMP40 德國Fischer涂層測厚儀用于對幾乎所有金屬上的涂層進行非破壞性的涂層厚度測量。FMP40 德國Fischer涂層測厚儀根據磁感應法和/或電渦流法對涂層進行非破壞性測量LI。

摘要 FMP30 德國Fischer涂層測厚儀方便的手持儀器，FMP30 德國Fischer涂層測厚儀用于對幾乎所有金屬上的涂層進行非破壞性的涂層厚度測量。FMP30 德國Fischer涂層測厚儀根據磁感應法和/或電渦流法對涂層進行非破壞性測量LI

摘要 FMP20 德國Fischer涂層測厚儀方便的手持儀器，FMP20 德國Fischer涂層測厚儀用于對幾乎所有金屬上的涂層進行非破壞性的涂層厚度測量。FMP20 德國Fischer涂層測厚儀手持式綠油厚度測量根據磁感應法和/或電渦流法對涂層進行非破壞性測量。

摘要 FMP10 德國Fischer涂層測厚儀方便的手持儀器，FMP10 德國Fischer涂層測厚儀用于對幾乎所有金屬上的涂層進行非破壞性的涂層厚度測量。FMP10 德國Fischer涂層測厚儀手持式綠油厚度測量根據磁感應法和/或電渦流法對涂層進行非破壞性測量。

摘要 MP0 涂層測厚儀袖珍式儀器，采用磁感應法/電渦流法，MP0 涂層測厚儀簡便、快速、無損地在幾乎所有金屬上（或只在鐵/鋼上）測量涂層厚度。

摘要 MP0R 涂層測厚儀袖珍式儀器，MP0R 涂層測厚儀采用磁感應法/電渦流法，有連接計算機的接口，MP0R 涂層測厚儀可簡便、快速、無損地在幾乎所有金屬上測量涂層厚度。

摘要 MP0R-FP 涂層測厚儀袖珍式儀器，采用磁感應法/電渦流法，MP0R-FP 涂層測厚儀帶有固定連接的電纜探頭和 PC 接口，MP0R-FP 涂層測厚儀用于方便、快速和非破壞性的測量幾乎所有金屬的涂層厚度。

摘要 SR-SCOPE RMP30-S 銅層測厚儀測量線路板正面上的銅涂層厚度，根據微電阻法符合 EN 14571 的標準。SR-SCOPE RMP30-S特別適用于測量多層或是較薄的板材上的銅厚，因為該測量法保證了兩面相對的銅層不會相互影響測量結果。

摘要 LE-200J 凱特Kett膜厚計是日本進口的便攜式膜厚計，LE-200J 凱特Kett膜厚計由深圳浚海中儀代理銷售。LE-200J 凱特Kett膜厚計更多詳情，咨詢。

摘要 LH-200J 凱特Kett膜厚計是日本進口的便攜式膜厚計，LH-200J 凱特Kett膜厚計由深圳浚海中儀代理銷售。LH-200J 凱特Kett膜厚計更多詳情，咨詢。

摘要 LZ-200J 凱特Kett膜厚計是日本進口的便攜式膜厚計，LZ-200J 凱特Kett膜厚計由深圳浚海中儀代理銷售。LZ-200J凱特Kett膜厚計更多詳情，咨詢。

摘要 LE-373 凱特Kett膜厚計是日本進口的便攜式膜厚計，LE-373 凱特Kett膜厚計由深圳浚海中儀代理銷售。LE-373 凱特Kett膜厚計更多詳情，咨詢。

摘要 LH-373 凱特Kett膜厚計是日本進口的便攜式膜厚計，LH-373 凱特Kett膜厚計由深圳浚海中儀代理銷售。LH-373 凱特Kett膜厚計更多詳情，咨詢。

摘要 LZ-373 凱特Kett膜厚計是日本進口的便攜式膜厚計，LZ-373 凱特Kett膜厚計由深圳浚海中儀代理銷售。LZ-373 凱特Kett膜厚計更多詳情，咨詢。

摘要 LZ-990 凱特Kett膜厚計是日本進口的便攜式膜厚計，LZ-990 凱特Kett膜厚計由深圳浚海中儀代理銷售。LZ-990 凱特Kett膜厚計更多詳情，咨詢。

摘要 LW-990 凱特Kett膜厚計是日本進口的臺式膜厚計，LW-990 凱特Kett膜厚計由深圳浚海中儀代理銷售。LW-990 凱特Kett膜厚計更多詳情，咨詢。

摘要 產品簡介：用十字劃格刀進行附著力的測試,符合標準ASTMD3359,DIN53151,壓痕硬度的測試符合標準DINENISO2815(布氏),通過顯微鏡可觀察針孔，陷坑，裂痕，氣泡，鱗片，層間附著力以及底材預處理的質量控制

摘要德國尼克斯膜厚計4500,膜厚計雙 功 能： Δ 測量鋼、鐵等磁性(Fe)基體上的非磁性涂鍍層的厚度;如油漆層、涂料、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鋁、錫等;Δ 測量銅、鋁、不銹鋼等非鐵磁性(NFe)基體上非導電層的厚度，如油漆層、涂料、塑料、橡膠、合成材料、...

摘要 超聲波膜厚計LU-200

摘要 無線分離式膜厚計200W

摘要 無線分離式膜厚計300W

摘要 電磁膜厚計LE-300C

摘要 膜厚計900

摘要 日本Kett公司膜厚計代理商：上海益朗儀器有限公司

摘要 日本KETT品牌LZ-370型膜厚計株式會社ケツト科學研究所Kett Electric Laboratory中國區總代理

摘要簡要描述：膜厚計是KETT品牌新款雙用一體機,,機型小巧,方便攜帶,性能穩定,功能廣泛的實用型機.有較高的性價比. 2．對磁性和渦流的測定方式有自動識別轉換功能,無需人工調整.有4種語言顯示及儲存功能等. 3.探頭上配有曲面器可測圓型,管型及弧型工件,此曲面器也可輕松...

摘要 簡要描述：膜厚計采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損的測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。

摘要 產品簡介： SANKO山高電磁式膜厚計SP-3300D； 是一款高性能，高精度的數字膜厚儀！同時，也是SP-1100D的代替品。用　途：◆ 薄膜厚度/屏幕抵制版厚度/彈性涂層厚度，食物，如海帶厚度。

摘要 產品簡介： 三高SANKO膜厚計SWT-7000III SWT-7200Ⅲ　SWT系列探頭可互換。　　◆ 兩用型 : FN-325　　　◆ 鐵材用 : Fe系列 　 　　　◆ 非鐵材 : NFe系列

摘要 簡單介紹： 它是一種緊湊且價格低廉的膜厚計，可通過高精度光學干涉儀以簡單的操作實現膜厚測量。我們采用了一體式的機殼，在主機中容納了必要的設備，從而實現了穩定的數據采集。通過以低價獲得優良反射率可以分析光學常數。