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武漢普賽斯儀表PMDT系列IGBT全動態參數測試設備是一款專用于MOSFET、IGBT、SiC MOS等器件的動態參數測試，能夠安全便捷的測試功率器件的開關延時...

武漢普賽斯儀表PMST系列半導體靜態參數測試儀測試主機內部采用的電壓、電流測量單元，均采用多量程設計，測試精度為0.1%。其中，柵極-發射極，蕞大支持30V@1...

武漢普賽斯儀表PMDT系列功率半導體動態參數測試設備2000V/2000A雙脈沖測試范圍，最大12kA短路電流、20nH超低主回路雜感、2us過流保護時間

2000V/2000A雙脈沖測試動態參數系統配備多種測試驅動板，可覆蓋開關參數測試、柵極電荷測試、短路測試、雪崩測試等，單次測試即可完成開關特性及反向恢復特性測...

光耦電性能分析測試系統測試主機內部采用的電壓、電流測量單元，均采用多量程設計，測試精度為0.1%。其中，柵極-發射極，蕞大支持30V@10A脈沖電流輸出與測試，...

1000V高壓脈沖源程控源測量單元具有輸出及測量電壓高（3500V）、能輸出及測量微弱電流信號（1nA）的特點。設備工作在第一象限，輸出及測量電壓0~3500V...

S系列精密電流源國產化數字源表自主品牌四象限工作，源和負載；電壓及電流范圍廣，最小電流分辨率10pA，電流±100pA～±3A，電壓...

武漢普賽斯儀表功率半導體測試設備igbt測試儀SiC|IGBT測試可精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、 BJT、IGBT，以及SiC、GaN第三代半...

功率半導體靜態參數測試設備測試主機內部采用的電壓、電流測量單元，均采用多量程設計，測試精度為0.1%。其中，柵極-發射極，蕞大支持30V@10A脈沖電流輸出與測...

大功率半導體器件參數測試系統是一款能夠提供IV、 CV、跨導等豐富功能的綜合測試系統，具有高精度、寬測量范圍、模塊化設計、輕松升級擴展等優勢，旨在全面滿足從基礎...

普賽斯儀表兩通道數字源表可獨立或組合工作，具有多種測試模式，可顯著提高測試和表征效率，廣泛應用于各種電氣特性測試中，特別適合現代半導體、納米器件與材料、有機半導...

普賽斯儀表致力于為高校打造芯片及功率器件測試平臺，提高學生動手實踐能力，利用迅速革新的產品解決方案，幫助學生在實踐中捕獲、測量、分析和模擬芯片、器件世界。集成電...

半導體功率模塊測試系統是普賽斯儀表經過精心設計與打造的高精密電壓/電流測試分析系統。該系統不僅具備IV、CV、跨導等多元化的測試功能，還擁有高精度、寬測量范圍、...

微電流源VI曲線掃描數字源表標準的SCPI指令集，Y秀的性價比，良好的售后服務與技術支持，集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作

功率半導體靜態參數測試機集多種測量和分析功能一體,可以精準測量功率半導體器件的靜態參數,具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、納安級電流測量能力等特點。支持高...

雙通道源表直流4A脈沖30A具有多種測試模式，可顯著提高測試和表征效率，廣泛應用于各種電氣特性測試中，特別適合現代半導體、納米器件與材料、有機半導體、印刷電子技...

武漢普賽斯儀表寬禁帶半導體器件靜態參數測試系統是一款能夠提供IV、 CV、跨導等豐富功能的綜合測試系統，具有高精度、寬測量范圍、模塊化設計、輕松升級擴展等優勢，...

DPXXB系列2通道數字源表高精度雙通道源表是在單通道脈沖臺式源表基礎上新打造的一款高精度、大動態、數字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，單通道...

DPXXB系列雙通道源表數字源表是在單通道脈沖臺式源表基礎上新打造的一款高精度、大動態、數字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，單通道最大輸出電壓...

半導體元器件iv曲線測試儀集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、8000V高壓下納安級測量、1000A...