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熱激光激發顯微鏡

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產品型號FPALP-TLS

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更新時間：2021-08-16 13:51:05瀏覽次數：228次

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產品簡介

熱激光激發顯微鏡采用ThermalLaserStimulation-TLS技術,配備高清光學顯微鏡和高功率激光器,高精度聚焦定位集成電路板元器件進行失效分析

詳細介紹

熱激光激發顯微鏡采用Thermal Laser Stimulation - TLS技術,配備高清光學顯微鏡和高功率激光器,高精度聚焦定位集成電路板元器件進行失效分析。
熱激光激發顯微鏡TLS的激光束可局部加熱元器件,讀取晶體管電流消耗數據，評估電子元器件失效與否。
熱激光激發顯微鏡TLS還可以集成激光故障注入系統，實現激光斑點1um 到13um聚焦。
熱激光激發顯微鏡TLS采用單模激光器,脈寬可從1ns到連續波模式可調，重復頻率從單發射到250MHZ可調，峰值功率高達1.2W,可穿透各種集成電路板和硅片。
熱激光激發顯微鏡TLS特色
可增配激光故障注入功能模塊
激光斑點1um~13um
峰值功率高達1.2W
配備高精度XYZ定位臺
高分辨率紅外視圖
熱激光激發顯微鏡TLS規格參數
激光器部分參數
激光波長：1310nm 或1420nm
連續激光功率：300mW
峰值激光功率：1.2W
脈寬：3ns 到連續波
重復頻率：單發射到連續波
激光斑點：1um~13um
控制命令接口：TTL/LVTTL
視圖觀察部分
視圖：高分辨率紅外相機，IR照明系統
定位臺部分
軸數：XYZ三軸
行程：52mm
分辨率：0.315um
重復精度：+/-0.8um
速度：20mm/s

關鍵詞：顯微鏡光學顯微鏡電子元器件功能模塊

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