X-熒光鍍層測厚儀牛津CMI900 / 950金屬鍍層厚度的精確測量
CMI 900 / 950 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層
厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析.基于Windows2000
中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了對CMI900/950主機的全面自動化控制，
厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析.基于Windows2000
中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了對CMI900/950主機的全面自動化控制，
技術參數：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都于*的測厚行業
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定zui多5層、15 種元素。
B ：精確度于世界，精確到0。025mil (相對與標準片)
C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；
如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，zui小可達0.025 x 0.051毫米
