概述
產品參數
核心理念
采用優異的成像技術
SU7000可以迅速獲取從大視野全貌圖到表面微細結構等多種檢測信號。全新設計的電子光學系統和檢測系統，使得裝置可以同時接收二次電子和背散射電子等信號，用戶可以在短時間內獲得更全面的樣品信息。采用多通道成像技術
隨著用戶對成像需求的不斷增長，SU7000特新增了幾種探測器，還引進了相應的成像功能。SU7000最多可同時顯示和保存6通道信號。實現了獲得樣品信息的。支持不同形狀樣品、多種觀察方法
?大型樣品觀察
?低真空觀察
?超低溫觀察
?實時觀察
等所需的樣品倉和真空系統都十分完備，觀察方法也是。支持微納解析
采用肖特基發射電子槍，束流可達到200 nA，適用于各種微納解析。樣品倉形狀和接口設置支持EDX分析、EBSD、陰極熒光分析等，接口設備可通過選配附件滿足各種特殊需求。
成像能力
追求信息的檢測系統
隨著用戶對樣品數據的需求更加多元化，對檢測系統在短時間內捕捉更多的信息提出了更高的要求。SU7000的檢測系統可以在不改變WD等條件的前提下，更高效地獲取形貌、成分、晶體學以及發光等信息。真正實現了更快速、更全面的信息收集。
產品參數
| 項目 | 內容 | ||
|---|---|---|---|
| 圖像分辨率 | 二次電子分辨率 | 0.8 nm/15 kV | |
| 0.9 nm/1 kV | |||
| 放大倍率 | 20～2,000,000 x | ||
| 電子槍 | 發射體 | ZrO/W熱場發射（肖特基熱場發射） | |
| 加速電壓 | 0.1～30 kV （步進：0.01 kV） | ||
| 束流 | 200 nA | ||
| 探測器 | 標準探測器 | UD （上探測器) | |
| MD （中探測器） | |||
| LD （下探測器) | |||
| 選配探測器*1 | PD-BSED (半導體式背散射電子探測器） | ||
| UVD（高靈敏度低真空探測器 ） | |||
| 低真空模式*1 | 樣品倉壓力范圍 | 5～300 Pa | |
| 可使用探測器 | PD-BSED, UVD, UD, MD, LD | ||
| 馬達臺 | 馬達臺控制 | 5軸馬達驅動 | |
| 移動范圍 | X | 0～135 mm | |
| Y | 0～100 mm | ||
| Z（WD） | 1.5～40 mm | ||
| T（傾斜角） | -5～70° | ||
| R（旋轉角） | 360° | ||
| 樣品尺寸 | 直徑：φ200 mm, 高度：80 mm | ||
| 顯示器*1 | 23英寸LCD （1,920×1,080）, 支持雙屏 | ||
| 圖像顯示模式 | 全屏顯示模式 | 1,280×960像素顯示 | |
| 單屏顯示模式 | 800×600像素顯示 | ||
| 雙屏顯示模式 | 800×600像素顯示、1,280×960像素顯示 *2 | ||
| 四屏顯示模式 | 640×480像素顯示 | ||
| 六屏顯示模式*2 | 640×480像素顯示 *2 | ||
| 圖像數據保存 | 保存圖像尺寸 | 640×480、1,280×960、2,560×1,920、5,120×3,840、10,240×7,680 | |
| 選配附件 | 能譜儀（EDX） | ||
| X射線波譜儀（WDX） | |||
| 電子背散射衍射（EBSD） | |||
| 陰極熒光探測器（CL) | |||
| 冷凍傳輸系統 | |||
| 各種功能樣品臺 | |||
*1
為選配項。
*2
支持雙屏顯示。
