General Photonics公司的PDL/IL測試儀(PDL-201)采用值/最小值搜尋法(符合TIA/EIA-455-198標準)，能夠對器件的偏振相關損耗(PDL)、插入損耗(IL)、光功率進行快速測量，測量速度0.2s。該測試儀工作波長覆蓋1260～1620nm，在高、低PDL和各種SOP的情況下都能得到精確的測量結果，無需波長校準，比基于Mueller矩陣方法測得的PDL值更準確。該測試儀擁有RS-232、USB 及以太網接口，可以方便地與計算機連接，進行遠程控制和數據傳輸，是精確、快速測量無源器件、DWDM 器件的理想儀器。
產品特性：
30 ms的測量速度
較寬的波長范圍
PDL測量精度高
PDL模擬輸出
高亮的OLED屏
產品應用：
PDL與波長測量
DWDM器件特性測試
光纖傳感元件特性測試
插入損耗(IL)的測量
器件生產、研發、質量評估
| 性能參數 | 指標 |
| 工作波長范圍 | 1260 to 1620 nm |
| 分辨率 | 0.01 dB |
| PDL測量精度 | +/- (0.01 + 5% PDL) dB |
| PDL測量可重復性 | +/- (0.005 + 2% PDL) dB |
| PDL測量范圍 | 0 to 45 dB |
| IL測量精度 | +/- (0.01 + 5% PDL) dB |
| IL測量可重復性 | +/- (0.005 + 2% PDL) dB |
| IL測量范圍 | 0 to 45 dB |
| 注入功率范圍 | -40 dBm to +6 dBm |
| 測量速度 | 30 ms/次（輸入功率> -30 dBm） |
