產品簡介：
采用最小搜索技術，通用光電公司的PDL測量儀能在30 ms內，同時測量待測器件的偏振相關損耗（PDL），插入損耗（IL）和光功率。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同，PolaCHEXTM有條理地搜索和最小透過率，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時刻的測量精度。因此可獲得確的PDL值。PolaCHEX覆蓋了較寬的波長范圍：1260~1650 nm，無需波長校準，比基于Mueller矩陣方法測得的PDL值更準確。它帶有USB、以太網、GPIB和RS-232接口，用于電腦控制。它能快速、精確測量與波長相關的無源器件的特性，尤其適用于制造或實驗室中DWDM、光纖傳感元件。與PDL-101相比，PDL-201具有較快的測量速度，較大的測量動態范圍，更明亮的顯示屏，以及用于集成的附加模擬輸出端口。
產品特性： | 產品應用： |
30 ms的測量速度 | PDL與波長測量 |
較寬的波長范圍 | DWDM器件特性測試 |
PDL測量精度高 | 光纖傳感元件特性測試 |
PDL模擬輸出 | |
高亮的OLED屏 |
規格參數 | |
| 工作波長 | 1260 - 1620 nm |
| 分辨率 | 0.01 dB |
偏振相關損耗（PDL）精度 | ± (0.01 + 5% of PDL) (dB) |
| PDL重復性 | ± (0.005 + 2% of PDL) (dB)） |
PDL動態范圍 | 0 - 45 dB |
| 插入損耗（IL）精度 | ± (0.01 + 5% of IL) (dB) |
| IL重復性 | ± (0.005 dB + 2% of IL) (dB) |
| IL動態范圍 | 0 - 45 dB |
| 光功率范圍（@DUT輸出端） | -40 ~ +6 dBm |
| 光功率精度 | ±0.25 dB |
| 測量速度 | 30 ms/次（輸入功率> -30 dBm） |
| 接頭類型 | 光源和DUT輸入：APC DUT輸出：自由空間適配器 |
