詳情介紹：
特殊長度
- 可以進行非接觸式，非破壞性的厚度測量
- 折反射系統（可以從一側接觸進行測量）
- 高速（*高速度5kHz）和實時評估成為可能
- 實現高穩定性（重復精度不超過0.01％）
- 抗粗糙性強
- 可以應付任何距離
- 支持多層結構（*多5層）
- 內置NG數據排除功能
- 可以進行距離（形狀）測量（內置傳感器隨附的選件） *
*通過在測量范圍內的光學距離測量
要點1：采用原創技術
實現高波長分辨率，同時支持廣泛的膜厚度。
大冢電子的技術封裝在緊湊的機身中。
要點2：高速支持
它
也是工廠生產線的理想選擇，因為它可以**的間距測量運動的物體。
第三點：支持各種表面條件的樣品
約有φ20μm的微小斑點，
可以在各種表面條件下測量樣品的厚度。
Point4：與各種環境兼容
由于可以從*遠200 mm的距離進行測量，因此
可以根據目的和應用構建測量環境。
測量項目
- 厚度測量（5層）
用
- 各種厚膜構件的厚度
- 產品信息
- 規格
- 基本配置
- 測量例
相關信息
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