產(chǎn)品介紹INTRODUCTION
ParkXE7配有ParkSystems的所有技術(shù)，而且價格十分親民。XE7在細(xì)節(jié)的設(shè)計上也相當(dāng)用心，是幫助您準(zhǔn)確且不超預(yù)算地完成硏究的理想之選。
的高性能
在同級產(chǎn)品中，ParkXE7能夠帶來納米級分辨率的測量效果。
得益于的原子力顯微鏡架構(gòu)，即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測量，從而精確成像和測量樣品的特征。
此外，Park所的TrueNon-Contact™模式還能為您帶來的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。
滿足當(dāng)前和未來需求
在ParkXE的幫助下，現(xiàn)在與未來皆在您的掌控中。
ParkXE7帶有業(yè)內(nèi)面的測量模式。這些模式不僅能滿足您目前的需求，也考慮到未來不斷變化的需求。
再者，XE7具有市場上開放性的設(shè)計，允許您整合其他附件和儀器，從而滿足您特殊的研究需求。
易于使用和高生產(chǎn)率
ParkXE7擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具，即便是初學(xué)者也可以快速地完成對樣品的掃描。
無論是預(yù)準(zhǔn)直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準(zhǔn)直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理，XE7能夠全力推動研究效率的提高。
經(jīng)濟實惠超越了系統(tǒng)成本
ParkXE7不僅僅是性價比的研究級原子力顯微鏡，也是使用成本的原子力顯微鏡。
ParkXE7中所搭載的TrueNon-Contact™模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針，并且它配有業(yè)內(nèi)最多的掃描模式，兼容性，讓您可隨時升級系統(tǒng)功能，從而延長產(chǎn)品的使用壽命。
特點FEATURES
精確的XY方向掃描，消除了交叉耦合誤差
- 樣品探針和針尖的兩種獨立閉環(huán)XY和Z平板式掃描
- 平板式和線性XY掃描，殘余彎曲誤差極小
- 整個掃描范圍內(nèi)的水平線性誤差小于2nm
- 精確的高度測量
Non-Contact™ （真正非接觸™ ）模式能夠延長針尖壽命, 提供高分辨率及保護樣品。
- 其Z伺服速度是壓電管基礎(chǔ)系統(tǒng)的10倍
- 非接觸式可降低針尖磨損、延長使用壽命
- 成像分辨率優(yōu)于同類原子力顯微鏡
- 增強樣品兼容性,提高掃描精度
的功能拓展方案
- 支持多種SPM模式
- 多種可選配測量模式
- 多種可選配件及更新，擴展性能*
便利的使用設(shè)計
- 開放式樣品空間，提高樣品及針尖更換效率
- 預(yù)對準(zhǔn)針尖安裝和同軸直視光路直觀地實現(xiàn)激光對準(zhǔn)
- 燕尾鎖方便鏡頭拆卸
優(yōu)勢ADVANTAGE
10μm x 10μm掃描范圍的二維柔性導(dǎo)向掃描器
XY軸掃描器含有對稱的二維柔性和高強度壓電疊堆，可在保持平面外運動最少的情況下，實現(xiàn)高正交運動以及納米級樣品掃描下的高響應(yīng)度。緊湊且堅固的結(jié)構(gòu)是為了低噪聲高速伺服回應(yīng)而設(shè)計的。
柔性導(dǎo)向的高強力Z軸掃描器
憑借著高強度壓電疊堆和柔性結(jié)構(gòu)，其可以允許掃描器以更高的速度縱向移動，這是傳統(tǒng)原子力顯微鏡中掃描器所無法做到的。Z軸掃描范圍可從標(biāo)準(zhǔn)的12μm增至40μm (選配件，長距離Z軸掃描器)。
滑動連接的SLD掃描頭
燕尾式軌道設(shè)計，輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。該設(shè)計可將鏡頭自動鎖定至預(yù)對準(zhǔn)的位置，同時與電路系統(tǒng)連接，無線纜操作，重復(fù)定位精度幾微米。
借助低相干性的830nmSLD激光器，顯微鏡可精確成像并可在皮牛量級進行力-距離曲線獲取。
此外，SLD激光器830nm的波長也消除了環(huán)境光照的干擾，讓用戶可隨意在可見光譜實驗中使用原子力顯微鏡。
操作簡易的樣品臺
開放式設(shè)計可容納100mm*100mm*20mm的樣品，且可輕易從側(cè)面更換樣品和探針。
手動的XY軸樣品臺
在手動XY軸樣品臺的精確控制下，樣品的測量定位變得簡單。XY軸樣品臺的行程范圍是13mm×13mm。
手動的光學(xué)對焦平臺
同軸鏡頭可手動調(diào)焦。
以DSP為核心的電路控制系統(tǒng)
原子力顯微鏡的納米級信號是由高性能的Park XE電子控制器所控制和處理的。
憑借著低噪聲設(shè)計和高速處理單元，Park XE電子控制器成功實現(xiàn)了True Non-ContacTM模式，這是納米級成像和精確電壓電流測量的選擇。
- 高性能DSP，頻率達600 MHz，處理速度高達4800 MIPS
- 低噪聲設(shè)計，帶來精確的電流電壓測量
- 系統(tǒng)，融合各種掃描探針顯微鏡技術(shù)
- 外部信號獲取模塊，獲取原子力顯微鏡輸入/輸出信號
- 16位數(shù)字圖像
- 16位ADC/DAC，頻率為500kHz
- 利用TCP/IP連接隔離電腦噪聲
10μmx 10μm掃描范圍的二維撓性導(dǎo)向掃描器
XY掃描器含系統(tǒng)二維柔性及強力壓電堆疊，全范圍正交移動時，具有業(yè)界最小的水平線性誤差，并能實現(xiàn)精確的樣品納米級掃描。
帶高分辨率的同軸直視光路
同軸直視光路使得用戶直接俯視觀看樣品，從而很容易就能找到目標(biāo)區(qū)域。高分辨率CCD具備變焦功能，移動過程中可確保清晰的圖像質(zhì)量。
簡單的探針和樣品更換
的頭部設(shè)計讓您能夠輕易地從側(cè)面更換新的探針和樣品。借助安裝懸臂式探針夾頭中預(yù)先對齊的懸臂，您無需進行繁雜的激光校準(zhǔn)工作。
簡單且敏銳的激光校準(zhǔn)
憑借著我們*的預(yù)校準(zhǔn)懸臂架，懸臂在裝載時激光便已聚焦完畢。此外，自上而下的同軸視角讓您可以輕松地找到激光光點。由于激光垂直照射在懸臂上，您可以平兩個定位旋鈕，將激光光點準(zhǔn)確定位。這樣，您可以在激光準(zhǔn)直界面中，輕易地找到激光并將其定位在PSPD上。此時，您只需要稍微調(diào)整以信號，便可開始獲取數(shù)據(jù)。
可選配件OPTIONAL ACCESSORIES
 25μmZ掃描器 | 工作距離：25μm 掃描器諧振頻率：1.7 kHz 激光類型：LD (650 nm) or SLD (830 nm) 零位掃描噪聲：0.03 nm (typical), 0.05 nm(maximum) |
 光學(xué)頭 | 光學(xué)兼容性：上方及側(cè)面 Z掃描范圍：12μm or 25μm 激光類型：LD (650 nm) or SLD (830 nm) 零位掃描噪聲：0.03 nm (typical), 0.05 nm (maximum) 掃描器諧振頻率：3kHz(12μm XE Head), 1.7 kHz (25 μm XE Head) |
 磁場發(fā)生器 | 施加外部磁場，平行于樣品表面方向 磁場強度可調(diào) 強度范圍:-300~+300高斯，-1500~+1500高斯 由純鐵芯和雙螺線管組成 |
 | 適用于未裝載的探針 探針偏壓范圍：-10Vto+10V 可以為電力顯微鏡和導(dǎo)電顯微鏡提供偏壓 支持所有標(biāo)準(zhǔn)模式及高級模式，掃描隧道顯微鏡、掃描電容顯微鏡及液體成像除外。 |
 液體池 | 多功能液池
電化學(xué)工作池 開放/閉式液池 |
 液池用探手 | 專為液體環(huán)境成像設(shè)計 耐常見緩沖液及弱酸堿腐蝕 在液體環(huán)境下實現(xiàn)接觸和非接觸成像 |
 控溫臺 | 制熱制冷臺（-25~180度） 250度控溫臺 600度0控溫臺 |
 信號接入模塊 | 使原子力顯微鏡可接入各種輸入/輸出信號 XY及Z掃描器的掃描器驅(qū)動信號 XY及Z掃描器的位置信號 垂直/水平方向的懸臂撓度信號 樣品及懸臂的偏壓信號 XE7的驅(qū)動信號 系統(tǒng)的輔助輸入信號 |
