美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 產品簡介
TSI3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基于TSI40年氣溶膠儀器設計的經驗，
本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統，從而得到高質量和高精度的數據。
同時，TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精確性。3330不僅可以單獨使用，而且還可以放入TSI的外場環境箱中在野外使用。
美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 產品特點：
• 0.5微米時粒徑分辨率小于5%
• 粒徑通道用戶可調
• 檢測粒徑范圍：0.3-10微米，最多16通道
• 顆粒物粒徑感應范圍：0.5至25 mm
• 檢測濃度范圍：0-3000 個 /cm3
• 彩色觸摸屏，直觀的用戶界面
• *ISO 21501-01/04要求
• 輸入折射率和密度可以同時顯示顆粒物數濃度和質量濃度
• 收集的采樣膜可進行稱重測量和化學分析
• 電池電量可供20小時的操作
• 最多可存儲30000個數據
• 記錄每個樣品的溫度和壓力
美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 技術參數
測量原則 ：
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制：
3,000個/ cm3 （3,000,000個/L）
質量濃度 ：
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑：
檢測粒徑范圍：0.3-10 mm
粒徑分辨率：0.5mm時5%（符合ISO 21501-01/04）
粒徑通道 ：最多16通道，用戶可調
• 0.5微米時粒徑分辨率小于5%
• 粒徑通道用戶可調
• 檢測粒徑范圍：0.3-10微米，最多16通道
• 顆粒物粒徑感應范圍：0.5至25 mm
• 檢測濃度范圍：0-3000 個 /cm3
• 彩色觸摸屏，直觀的用戶界面
• *ISO 21501-01/04要求
• 輸入折射率和密度可以同時顯示顆粒物數濃度和質量濃度
• 收集的采樣膜可進行稱重測量和化學分析
• 電池電量可供20小時的操作
• 最多可存儲30000個數據
• 記錄每個樣品的溫度和壓力
美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 技術參數
測量原則 ：
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制：
3,000個/ cm3 （3,000,000個/L）
質量濃度 ：
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑：
檢測粒徑范圍：0.3-10 mm
粒徑分辨率：0.5mm時5%（符合ISO 21501-01/04）
粒徑通道 ：最多16通道，用戶可調
