摘要 Zeta 電位及其測定分析儀采用的是電泳光散射原理：帶電顆粒在外加電場作用下進行運動，電荷運動使散射光產生頻率漂移（多普勒頻移）,采用頻譜漂移分析技術,從而可計算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。

摘要 納米粒度及zeta電位儀NANOTRAC WAVE II采用先進的“Y”型光纖探針光路設計，配置膜電極產生微電場，操作簡單，測量迅速，無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，*消除由于空間位阻

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學測試儀器，可廣泛應用于電極過程動力學、化學電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學分析及有機電化學合成等方面的研究

摘要 便攜式氧化還原電位儀 高精度氧化還原電位測試儀 型號:JC16-QX6530可測量pH值、溫度、毫伏值、氧化還原電位（ORP）。微電腦處理器，測量精度高、重復性好、自動溫度補償，操作簡單。配通用電極，滿足常規pH的測量。

摘要 Zeta電位分析儀FPA測量纖維及填料的表面電荷，通過測量化學品添加前后的樣品情況，能評估諸如淀粉或濕強劑對造紙工藝的影響。

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學測試儀器，可廣泛應用于電極過程動力學、化學電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學分析及有機電化學合成等方面的研究

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學測試儀器，可廣泛應用于電極過程動力學、化學電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學分析及有機電化學合成等方面的研究

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學測試儀器，可廣泛應用于電極過程動力學、化學電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學分析及有機電化學合成等方面的研究

摘要 zeta電位分析儀采用的是電泳光散射原理：帶電顆粒在外加電場作用下進行運動，電荷運動使散射光產生頻率漂移（多普勒頻移）,采用頻譜漂移分析技術,從而可計算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。

摘要 ZETA電位測量儀是簡單、方便而且準確的電泳遷移率測量儀器，其*的開放式樣品槽設計與頻譜漂移分析技術相結合，使其具有*的分辨率，足以分辨等電點附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響，從而使測量變得準確而方便。

摘要 多功能智能納米激光粒度儀一：產品介紹：Nano9200系列多功能智能納米激光粒度儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位

摘要 美國CD公司高濃度zeta電位分析儀

摘要 Zeta電位儀是一種用于測量溶液中顆粒或界面的Zeta電位的儀器。Zeta電位是表征帶電顆粒或界面表面電荷狀態的物理量，它影響著顆粒或界面的穩定性、相互作用和分散性質。

摘要 納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

摘要納米粒度儀及zeta電位分析儀當激光照射到分散于液體介質中的微小顆粒時，由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移，導致散射光信號隨時間發生動態變化，該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有關，而顆粒的布朗運動速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運動速度低，反之顆粒小布朗運動...

摘要 型號 Horiba 納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2 簡介 SZ-100V2 只需單臺設備就能表征納米顆粒的三個參數：粒徑、Zeta 電位和分子量。

摘要 產品參數美國MAS超聲粒度儀，美國MAS（MassAppliedSciences）公司成立至今有30余年歷史，是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發和生產型企業

摘要 產品參數1)采用專門的電動聲波振蕩技術，該儀器可完成非凡的電動測量結果，從而避免了傳統的微電泳技術的許多限制和局限

摘要 產品參數不稀釋：快速、簡易，極少或不需事前樣品準備！堅固耐用，用途廣泛

摘要 產品參數不稀釋：快速、簡易，極少或不需事前樣品準備！堅固耐用，用途廣泛

摘要 產品參數1）能分析多種分散物的混合體

摘要 產品參數Zeta電位胤煌科技，Zeta可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導等

摘要 產品參數美國MAS粒度和Zeta電位測定儀,Zeta可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導等

摘要 產品參數ZetaZeta電位分析儀，Zeta可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導等

摘要 產品參數超聲法原理粒度電聲法Zeta電位分析儀，樣品的高濃度可達60%（體積比），被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠皆可直接測量

摘要 產品參數原液電聲法zeta電位分析儀可同時測量Zeta電位、PH、電導、溫度等指標

摘要 產品參數美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀精確非均勻樣品分析—包括納米顆粒—歸功于其與顆粒密度無關的分析

摘要 產品參數AREPA原液在線納米粒度儀在線粒度測量

摘要 產品參數ZetaAcousticZA500高濃度Zeta電位分析儀美國MAS公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、Zeta電位分析儀的研發生產

摘要 產品參數美國MASZetaAcousticZA500電位分析，應用科學公司發明電動聲波振幅（ESA）技術用于高百分比之固體Zeta表面測量

摘要 產品參數ZetaAcousticZA500電位分析儀ZA500，ZetaAcoustic，結合Zeta電位分析儀、聲波、電聲測量三合一很強，高的分辨率，免稀釋Zeta電位分析

摘要 產品參數粒度電聲法Zeta電位分析儀，Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量

摘要 產品參數ZetaFinderZF400高濃度Zeta電位分析儀采用專門的電動聲波振蕩技術，該儀器可完成非凡的電動測量結果，從而避免了傳統的微電泳技術的許多限制和局限，該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導、溫度等指標

摘要 產品參數超聲電聲法Zeta電位分析儀該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導、溫度等指標

摘要 產品參數美國MAS電聲法粒度Zeta電位分析儀原液測試該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導、溫度等指標

摘要 產品參數超聲電聲法及Zeta電位分析儀采用專門的電動聲波振蕩技術，該儀器可完成非凡的電動測量結果，從而避免了傳統的微電泳技術的許多限制和局限，該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導、溫度等指標

摘要 產品參數APS100納米粒度儀美國MAS公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、Zeta電位分析儀的研發生產

摘要 Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS（PhaseAnalysisScattering

摘要簡要描述：Nicomp Z3000激光粒度儀及ZETA電位分析儀是在原有的經典型號380DLS基礎上升級配套而來，采用雪崩二極管（APD）檢測器和大功率激光器，大功率激光器可以增加光強度，APD檢測器更是增加了對微小粒子所發出信號的探測能力。利用動態光散射理論，粒徑檢...

摘要簡要描述：Nicomp Zeta電位分析儀是在原有的經典型號380DLS基礎上升級配套而來，采用動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯...

摘要簡要描述：Nicomp Z3000 納米zeta電位分析儀是在原有的經典型號380DLS基礎上升級配套而來，采用動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟...

摘要 納米粒度及Zeta電位分析儀

摘要 全自動Zeta電位分析儀

摘要 SurPASS 3固體電運動分析儀/ 固體表面Zeta 電位儀幫助科研人員在化學與材料科學領域內改善和調整表面特性，設計新型、特定性質的材料，如聚合物、紡織、陶瓷、玻璃、或表面活性劑等。

摘要 原產地： 英國