摘要 SurPASS 3固體電運動分析儀/ 固體表面Zeta 電位儀幫助科研人員在化學與材料科學領域內改善和調整表面特性，設計新型、特定性質的材料，如聚合物、紡織、陶瓷、玻璃、或表面活性劑等。

摘要 原產地： 英國

摘要502型顯微電泳法Zeta電位儀●通過傳統微電泳方法測量膠體顆粒的zeta 電位。與激光光散射法相比，沒有黑盒子。●502的的超顯微鏡設計提供了一個高對比度的圖像，即使是納米粒子。依賴于顆粒對懸浮介質的相對折射率不同，可測量小至20nm的顆粒。●高水平的激光光學系統和...

摘要 Zeta電位儀Zeta電位儀廣泛應用于化妝品、選礦、造紙、醫療衛生、建筑材料、超細材料、環境保護、海洋化學等行業，也是化學、化工、醫學、建材等專業的重要教學儀器之一

摘要 儀器名稱：納米粒度及Zeta電位分析儀型號：MalvernZetasizerZEN3600Mastersizer3000檢測項目：Zeta電位測量

摘要 Zeta電位儀

摘要 ZetaPALS 高靈敏度Zeta電位儀

摘要 簡要說明：粒度范圍：0.3nm～15μm測量功能：分子量、Zeta電位、粒度選件：自動滴定儀、介電常數儀、粘度計儀器品牌：美國布魯克海文儀器名稱：高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀儀器型號：90Plus/90PlusZeta/ZetaPlus

摘要 納米粒度和Zeta電位儀

摘要 BeNano90Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀集成了動態光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態光散射SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta電位，高分子和蛋白體系的分子量等參數，廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域。

摘要 型號：Nano-2sZEN3600主要技術指標：粒度測定范圍：0.6nm-6000nm；濃度范圍：0.1ppm-40%（W/v)；分子量測定范圍：道爾頓；溫度控制范圍：2-90℃

摘要 在表面分析中，SurPASS可測試基于流動電勢和流動電流的宏觀固體表面Zeta電位

摘要 儀器介紹新一代ZetasizerNano系列可以為膠體和聚合物化學專家提供綜合測量三項最重要參數的能力，即粒度、zeta電位和分子量

摘要 ZetasizerNanoZSP是性能的系統，特別適用于需要粒度及ZETA電位測量靈敏度的蛋白質及納米顆粒的表征

摘要 Zeta電位分析儀

摘要DT-1202 超聲粒度和zeta電位分析儀美國分散科技公司（DTI）專注于非均相體系表征的科學儀器業務。DTI開發的基于超聲法原理的儀器主要應用于在原濃的分散體系中表征粒徑分布、zeta電位、流變學參數、固體含量、孔隙率，包括CMP漿料，納米分散體，陶瓷漿料，電池漿...

摘要 密度高或粒徑大的顆粒會沉積在測量室底部。ZetaCompact視頻追蹤式Zeta電位測定儀采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。

摘要ZetaCAD固體表面Zeta電位分析儀是直接測定流動電位/流動電流的Zeta電位分析儀，幫助科研人眼在化學于材料科科學領域內改善和調整表面特征。適用于沉積的大顆粒、纖維、和平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解液科研透過的曲面膠或中空纖維樣品，包括聚合物、紡織、陶瓷、玻...

摘要 法國WALLIS 多普勒電泳高分辨率Zeta電位分析儀具有的分辨率，用于研究膠體溶液的穩定性和性質，并且可以和其它分析手段聯用。為制藥行業的反應監測和藥瓶中的蛋白質聚集體納米階段的生成監控，

摘要 高分辨率納米粒度和Zeta電位分析儀是基于動態光散射（DLS）和激光多普勒電泳（LDE）技術，提供高分辨率，和快速的粒度和zeta電位測試和遠程原位測試。

摘要 納米粒度和Zeta電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微米顆粒的儀器。它可通過測量動態光散射 （DLS）、電泳光散射 （ELS） 和靜態光散射 （SLS） 來測定顆粒尺寸、zeta電位和分子質量。

摘要 微電泳儀（水性體系）產品詳細介紹JS94H型微電泳儀（Zeta電位儀）是可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理

摘要 （水性體系和非水體系兩用型）微電泳儀（Zeta電位儀）是可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理

摘要 微電泳儀（水性體系）產品詳細介紹微電泳儀（Zeta電位儀）可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理

摘要 (微電泳儀)(水性體系和非水體系兩用型)產品詳細介紹微電泳儀（Zeta電位儀）可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理

摘要 微電泳儀(水性體系和非水體系兩用型)產品詳細介紹微電泳儀（Zeta電位儀）可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理

摘要 微電泳儀(水性體系)產品詳細介紹微電泳儀（Zeta電位儀）可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理

摘要安東帕作為高性能分析儀器的開發商和制造商，它將其物理和工程專業技術與當代的軟件創意相結合，研發出直觀又輕松易用的Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀。該分析儀通過光散射技術和巧妙簡易的軟件測量顆粒尺寸，Zeta電位、分子量和透光率。讓您對顆粒體系有一...

摘要奧地利Anton Paar公司SurPASS 3固體表面Zeta電位分析儀采用流動電勢法和流動電流發測量Zeta電位，突破了傳統的電泳光散射原理對樣品的限制；采用“增強的 SurPASS 原理"，可直接研究平面固體、粉末、纖維、箔、多孔材料以及具有不同表面粗糙度的材料...

摘要 描述：9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數字相關器為核心器件，使用動態光散射技術測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術測量Zeta電位，使用靜態光散射技術測量分子量，測量結果準確可靠，是測量納米顆粒粒度和Zeta電位的信賴之選。

摘要 描述：9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數字相關器為核心器件，使用動態光散射技術測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術測量Zeta電位，使用靜態光散射技術測量分子量，測量結果準確可靠，是測量納米顆粒粒度和Zeta電位的信賴之選

摘要 描述：9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數字相關器為核心器件，使用動態光散射技術測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術測量Zeta電位，使用靜態光散射技術測量分子量，測量結果準確可靠，是測量納米顆粒粒度和Zeta電位的信賴之選。

摘要 描述：9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數字相關器為核心器件，使用動態光散射技術測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術測量Zeta電位，使用靜態光散射技術測量分子量，測量結果準確可靠，是測量納米顆粒粒度和Zeta電位的信賴之選。

摘要 DT-310電聲法Zeta電位儀Zeta電位儀：許多的科學家把聲學應用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德爾，雷諾，德拜。。。。。。通過聲學和電聲學手段會提供關于顆粒表征的三個重要領域的信息: 粒徑分布，流變學和電動學。

摘要 儀器簡介：在表面分析中，固體表面Zeta電位分析儀SurPASS3基于流動電勢和流動電流測量法，從而研究宏觀固體表面Zeta電位

摘要 Zeta電位分析儀液體中懸浮的粒子很接近表面位置的靜電勢1

摘要NanolinkSZ901系列是真理光學在SZ900基礎上基于多年的科研成果開發的新一代納米粒度和Zeta電位分析系統，采用動態光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)原理分別進行納米粒度測量和Zeta電位分析，被廣泛應用于有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、...

摘要 充滿信心地邁步向前ZetasizerPro是一種強大且多用途的測量系統，適用于測量顆粒和分子大小以及納米顆粒的電泳遷移率和電動電勢

摘要 充滿信心地邁步向前全新ZetasizerUltra是用于執行顆粒與分子粒度、顆粒電荷和顆粒濃度的系統，是整個Zetasizer系列中最智能、靈活度的儀器

摘要ZetaPlus是簡單、方便而且準確的Zeta電位與電泳遷移率測量儀器，其*的開放式樣品槽設計與頻譜漂移分析技術相結合，使其具有*的分辨率，足以分辨等電點附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響，從而使測量變得...

摘要 一、產品簡介Zeta納米粒度及Zeta電位儀是全新開發的測量納米顆粒粒度和Zeta電位的光學檢測系統

摘要 ZetasizerNanoS90是一種的高性價比解決方案，適合需要較高粒度測量靈敏度，或者需要與采用90度散射光學元件的原有系統結果相同的情況

摘要 概述在無需粒度或分子量測量的情況下，ZetasizerNanoZ是測量膠體及納米顆粒ZETA電位及電泳遷移率的理想系統

摘要 產品簡介：Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS（PhaseAnalysisScattering

摘要 zeta電位·粒徑·分子量測量系統大塚ELSZ-2000可測量低濃度溶液～高濃度溶液的ZETA電位、粒徑及分子量