日立FT160、FT160s、FT160L射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x
日立主營(yíng)EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、EA8000VX、FT110A、FT160、FT160s、X-Strata92，其中FT160系列產(chǎn)品,搭載了性能X射線管，實(shí)現(xiàn)了高精度的測(cè)定。FT110A極微小準(zhǔn)直管和可變焦距光學(xué)系統(tǒng)的組合，實(shí)現(xiàn)了對(duì)極微小部分的測(cè)定。對(duì)有段差的樣品也適用。
1. 高速測(cè)量：通過(guò)X射線檢測(cè)機(jī)的改良，對(duì)于代表性的Au、Pd、Ni、Cu（金、鈀、鎳、銅）多鍍層測(cè)量，相比以前機(jī)型，效率提高了2倍以上。
2. 對(duì)應(yīng)超小型的芯片零部件的厚度測(cè)量（FT160h：FT160s通過(guò)新時(shí)開(kāi)發(fā)的聚光導(dǎo)管，可以測(cè)量超小型芯片零部件（電容、電阻等）的電極部的鍍層厚度測(cè)量。
3. 兼顧安全性和簡(jiǎn)便性：采用防止X射線泄露的密集型框架和大開(kāi)口且可以方便開(kāi)啟和關(guān)閉的樣品門，兼顧安全性和簡(jiǎn)便性。「FT160s」可以對(duì)應(yīng)600×600mm的大型線路板。
X射線熒光鍍層厚度儀FT160、FT160s、X-Strata92是采用聚光X射線的聚光導(dǎo)管，可對(duì)微小部的鍍層厚度進(jìn)行高速測(cè)量的高性能儀器。通過(guò)X射線檢測(cè)儀器的改良，在線路板和連接器等使用的Au、Pd、Ni、Cu（金、鈀、鎳、銅）多鍍層檢測(cè)中，其測(cè)量速度與本公司以往機(jī)型（FT160，以下相同）相比，提高了2倍以上。在「FT160s」里通過(guò)新開(kāi)發(fā)的聚光導(dǎo)管也可以測(cè)量超小型芯片零部件的端子鍍層厚度。而且跟以往機(jī)型相同，為操作員的安全和安心考慮，采用X射線泄露的可能性極小的密集型框架。新設(shè)計(jì)的樣品室門采用大開(kāi)口，同時(shí)保證了開(kāi)啟和關(guān)閉的便捷性。并且通過(guò)大型觀察窗口，可以方便地取放和定位樣品。另外，操作軟件通過(guò)圖標(biāo)和便捷畫面在提高了操作性的同時(shí)，可通過(guò)數(shù)據(jù)自動(dòng)保存功能減輕操作員的業(yè)務(wù)。通過(guò)這些改進(jìn)，「FT160s系列」實(shí)現(xiàn)了高精度迅速的鍍層厚度測(cè)量，為測(cè)量工作的效率化和成本削減做出了貢獻(xiàn)。
