日立X-Strata920X射線熒光鍍層測厚儀
日立X-Strata920使用X射線熒光(XRF)進行的鍍層厚度測量是經過證明的快速的無損分析技術，X-Strata920設計為面向電子產品和金屬表面 處理，測量單層和多鍍層(包括合金層)，應用專家對 X-Strata920 進行了進一步升級， 確保獲得可靠、可重復結果，滿足數百種應用，包括 PCB 表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面 處理、耐磨損處理、耐高溫處理等。
X-Strata920這一出色的工具可確保樣品符合規格，同時通過避免過度電鍍和返工來降低成本。操作員只需加載樣品，將其定位在屏幕上的目標下方，使用激光焦點對齊，即可開始測量。結果在幾秒內即可顯示出來，然后操作員可快速執行下一個任務。得益于通過可追溯標準打造的優化校準方式，您將對結果的準確性充滿信心。日本日立提供多種鍍層厚度解決方案EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、EA8000VX、FT110A、FT160、FT160s、X-Strata920）
使用X-Strata920可遵從各種行業規范，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。
