摘要 P17 自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 P170 全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 D300 經(jīng)濟型高精度臺階儀

摘要 D500 高精度臺階儀

摘要 D600 高精度探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 P7 晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 Kosaka ET150臺階儀 KOSAKAET150基于WindowsXP系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS及平板顯示等。

摘要 我們做為世界高精度臺階儀、光學(xué)輪廓儀的，是生產(chǎn)悠久的公司

摘要 德國布魯克 DektakXT 臺階儀

摘要 產(chǎn)品概述：●高精度．安定性．機能性適合于FPD基板·晶圓硬盤等的微細(xì)形狀、段差、粗度測定的機型

摘要這款三維臺階儀是德國進口的高精度光學(xué)臺階儀器,也是一款光學(xué)表面臺階儀適合臺階高度測量,具有較低的進口臺階儀品牌臺階儀價格,適合對表面幾何形狀和表面紋理分析,以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理,微米和納米形狀,圓盤,圓度,球度,臺階高度,距離,...

摘要簡單介紹 美國KLA-Tencor AlphaStep臺階儀 膜厚儀 探針接觸式輪廓儀 D-300，它廣泛應(yīng)用于太陽能薄膜材料、半導(dǎo)體硅片、微電子器件、薄膜化學(xué)涂層、平板顯示器等研究領(lǐng)域。在新型薄膜...

摘要KOSAKA 臺階儀ET4000系列產(chǎn)品概述：● 高精度．安定性．機能性適合于FPD基板·晶圓硬盤等的微細(xì)形狀、段差、粗度測定的機型。● 是多機能的全自動微細(xì)形狀測定機，針對用途及樣品尺寸有多種機型可供選擇。● ET4000A/ ET4000AK一可實現(xiàn)2D...

摘要 KOSAKA 臺階儀產(chǎn)品概述：● ET200A臺階儀適用于二次元表面納米等級段差臺階測定、粗糙度測定。● ET200A臺階儀擁有高精度．高分解能，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，安定的測量過程及微小的測定力可對應(yīng)軟質(zhì)樣品表面。● 該型號臺階儀采用直動式檢出器，重現(xiàn)性高。

摘要 Alpha-Step D-500臺階儀探針測量技術(shù)的一個優(yōu)點是它是一種直接測量，與材料特性無關(guān)。 可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結(jié)構(gòu)和材料進行精確測量。 通過測量粗糙度和應(yīng)力，可以對工藝進行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的任何變化。

摘要 Alpha-Step D-600 臺階儀探針測量技術(shù)的一個優(yōu)點是它是一種直接測量，與材料特性無關(guān)。 可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結(jié)構(gòu)和材料進行精確測量。 通過測量粗糙度和應(yīng)力，可以對工藝進行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的任何變化。

摘要 P-17 臺階儀因而具備出色的測量穩(wěn)定性。 通過點擊式平臺控制、頂視和側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)以及帶光學(xué)變焦的高分辨率相機等功能，程序設(shè)置簡便快速。 P-17具備用于量化表面形貌的各種濾鏡、調(diào)平和分析算法，可以支持2D或3D測量。 并通過圖案識別、排序和特征檢測實現(xiàn)全自動測量。

摘要 P-170 臺階儀因而具備出色的測量穩(wěn)定性。通過點擊式平臺控制、頂視和側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)以及帶光學(xué)變焦的高分辨率相機等功能，程序設(shè)置簡便快速。P-170具備用于量化表面形貌的各種濾鏡、調(diào)平和分析算法，可以支持2D或3D測量。并通過圖案識別、排序和特征檢測實現(xiàn)全自動測量。

摘要 P-7 臺階儀 它保持了P-17技術(shù)的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了*的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接。

摘要臺階實驗測試儀 臺階測試儀型號：LDX-TJCS-II本產(chǎn)品是根據(jù)《中國成年人體質(zhì)測定標(biāo)準(zhǔn)》測試細(xì)則要求和我國少年兒童保健工作常規(guī)檢查內(nèi)容的需要，由我單位設(shè)計制成的，是一種簡易評價成年人的血心管系統(tǒng)功能的定量負(fù)荷試驗。主要通過觀察定量負(fù)荷持續(xù)地運動時間、運動中心血管...

摘要 臺階儀

摘要DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創(chuàng)新性的設(shè)計，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測量重復(fù)性可以達到5?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的，更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，Dektak...

摘要 我們?yōu)榭蛻籼峁耐庋悠?芯片-封裝-組裝全產(chǎn)業(yè)鏈的測試解決方案。　

摘要 德國布魯克Dektak XTL探針式輪廓儀系統(tǒng)