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SEIFERT XRD Space Universal 通用型射線衍射
SEIFERT XRD Charon Stress Analyzer射
單色光掃描系統和固定式多色光勞厄分析系統，用于單晶材料、硅圓、晶錠、渦輪葉片和太陽能光板等的定向分析和檢測，可集成到產線和質量控制流程。
· XRD Galaxy SCL
采用固定式勞厄分析方法，用于確定硅圓、晶錠、渦輪葉片的取向，可進行點分析或者表面掃描檢測，通過顯微鏡鏡頭和激光進行樣品調整
· XRD Galaxy SCD
采用衍射的方法掃描分析樣品的取向，可用于確定硅圓、晶錠、渦輪葉片的取向，可進行點分析或者表面掃描檢測，通過顯微鏡鏡頭和激光進行樣品調整
德國SEIFERT Analytical X-ray可根據用戶的應用和要求，提供定制化的系統配置。
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