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榮進化學EISHIN滲透試片ASME型

滲透試片JIS1型,ISO1型,JIS2型,ISO2型,JIS3型,ASME鋁試件

滲透測試面板TAM型；磁粉探傷用標準試片JIS Z 2320-1,JIS A型,JIS C型

超聲波探傷用標準試件JIS Z 2345-1,JIS Z 2345-4,G型,N1型,A1型,A2型,A3型

Hoffman TAM 面板是一種滲透測試面板，用于 ASTM E 1417 定義的系統檢查。它已獲得普惠公司（TAM146040）和勞斯萊斯公司（RRP-58003）的認可，并因其高質量和可靠性而被世界各地的航空相關公司所使用。您可以選擇兩種類型：P&W TAM 146040-1 Polish（具有鏡面表面）和 P&W TAM 146040-2 Grit（具有噴砂表面）。標配 5 種說明圖案中每一種的單獨照片、帶有整個面板照片的測試報告（實際尺寸照片）以及帶有特殊泡沫的透明盒。

TAM面板是根據 ASTM E 1417標準使用的特定測試面板。ASTM E 1417是 ASTM International（美國測試與材料協會）發布的名為“液體滲透測試標準技術"的標準。本標準提供了使用液體滲透檢測方法檢查材料的指南。

TAM代表“測試附件材料"，TAM面板通常用于評估液體滲透劑檢測表面缺陷和異常區域的靈敏度和性能。這些面板有助于評估和鑒定滲透性材料。

JIS A型、C型標準試件是評價磁粉探傷性能和檢測金屬零件和結構表面微小缺陷和裂紋的工具，是提高檢測結果準確性的技術。

通過使用試件，可以客觀地評價磁粉探傷的靈敏度和準確性。還可以研究影響磁粉檢測性能的因素。例如，對所使用的裝置的性能、磁粉、試驗液體、磁場的強度和方向、試驗操作的充分性等進行評價。

A型標準樣本用于可靠地指示特定缺陷的方向。如果缺陷在特定方向，則磁性顆粒的圖案將是特定圖案。通過清晰地顯示該圖案，可以保持探傷的準確性。在測試片中，調整磁化方法、磁化電流的值、磁性粒子的施加方法、測試液體中磁性粒子的濃度等。

該樣本由一塊純鐵制成，一側有凹槽。試件根據槽深、板材材質、厚度等分為多種類型。

超聲波探傷用標準試件（JIS Z 2345-1～JIS Z 2345-4）概述：

測量反射體位置所需的時基和測量范圍的調整：用試樣調整超聲波探傷儀的時基，以精確測量反射體的位置。此外，通過適當調整測量范圍，優化探傷范圍。

反射器回波高度測量和缺陷靈敏度調整的必要調整：使用樣本，調整超聲波探傷儀設置以準確測量反射器的回波高度。另外，通過調整探傷靈敏度，可以更可靠地檢測微小的缺陷和異常。

探傷儀的特性和性能的檢驗以及探傷儀檢驗所需的性能特性的測量：使用試件，檢查超聲波探傷儀的特性和性能，以確認其功能是否正常。性能特征測量用于評估設備性能并根據需要進行調整或維修。

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