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LABR3（Ce）閃爍檢測器是一種中等分辨率閃爍檢測器，具有1.5 x 1.5英寸。

Mirion Broad Energy Ge （BEGe） 探測器覆蓋了 3 keV 至 3 MeV 的能量范圍，與眾不同。

傳統的同軸鍺探測器通常被稱為Pure Ge，HPGe，Intrinsic Ge或Hyperpure Ge。

鍺探測器是具有p-i-n結構的半導體二極管，其中本征（i）區域對電離輻射敏感，特別是X射線和伽馬射線。

混合K-Edge/XRF分析儀設計用于同時識別和定量均勻液體或固體樣品中的幾種重元素。

NAIS-2x2型閃爍檢測器是一款高效閃爍檢測器，具有2 x 2 in。

Mirion Ultra-LEGe探測器將Ge探測器的性能范圍擴展到幾百電子伏特，提供曾經被認為半導體探測器無法實現的分辨率和峰背景比

TN-15高靈敏度熱中子探測器采用的硅光電傳感器（SiPM），并以緊湊的形式提供的規格。

7419屏蔽準直器特征 所有態度 緊湊 - 旋轉支腿和折疊手柄 可拆卸準直器 - 44 毫米（1.75 英寸） 可拆卸錫過濾器 - 1 毫米厚（0.040 英寸...

CEBRS-1.5x1.5 探測器適用于非空調房間以及現場應用。

NAIS-3x5x16型閃爍檢測器是一款高效閃爍檢測器，具有3x5x16英寸。

NAIS-3x3型閃爍檢測器是一款高效閃爍檢測器，具有3 x 3 in。

802 型閃爍檢測器是一個密封組件，包括高分辨率 NaI（Tl） 晶體、光電倍增管、內部磁/光屏蔽、鋁外殼和 14 針連接器。

Mirion XtRa裝置是一種同軸鍺探測器，在前表面上具有的薄窗口接觸，可將有用能量范圍擴展到3 keV。

用于高純度鍺（HPGe）探測器的智能前置放大器（iPA）是一款低噪聲、高速電阻反饋前置放大器，設計用于高分辨率伽馬光譜和定時測量。

反向電極（REGe）探測器在幾何形狀上與其他同軸鍺探測器相似，但有一個重要區別。

低能鍺（LEGe）探測器在各個方面都針對低能量和中等能量的性能進行了優化，并且與傳統的平面或同軸探測器相比具有特定的優勢。

高純度鍺 （HPGe） 孔檢測器為小樣品提供率，因為樣品幾乎被活性檢測器材料包圍。

SAGe 孔檢測器在低能量和高能量下具有出色的能量分辨率，對于小樣品具有率。

ACT-LC Ge探測器專為檢測內部沉積的錒系元素而設計，特別是鈾、钚和镅。