詳細(xì)摘要: 膜厚測(cè)試儀主要特點(diǎn)包括:+ 成本低、快速、非破壞的分析。 + 可完成至多4層鍍層(另加底材)和15個(gè)元素的鍍層厚度測(cè)試,自動(dòng)修正X射線重疊譜線。
產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2018-05-15 在線留言深圳市海光科技有限公司
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