博曼半導體膜厚測試儀有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。
行業用于電子元器件，半導體，PCB，LED支架，五金電鍍，連接器等……多個行業表面鍍層厚度的測量.
應用領域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和首飾加工行業；銀行、首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
博曼半導體膜厚測試儀技術指標：
元素分析范圍：從AL到U
一次性可同時分析多層鍍層
分析厚度檢測出限zui高達0.01um
同時可分析多達5層以上鍍層
相互獨立的基體效應校正模型，厚度分析方法
多次測量重復性zui高可達0.01um
*工作穩定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品）
溫度適應范圍：15℃~30℃
輸出電壓220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩壓電源）
博曼結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
如果您有什么問題或要求，請您隨時。您的任何回復我們都會高度重視。金東霖祝您工作愉快！
二手膜厚儀回收及評估
專業從事進口X熒光光譜儀 X射線測厚儀維修校準的服務商。提供檢修更換X光管、高壓電源、探測器、控制電路板等核心部件、并升級或者以舊換新、以壞換好。
另我們*收購/出售二手X射線鍍層測厚儀、膜厚儀、測厚儀等分析檢測儀器。
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德國菲希爾 FISCHER X-RAY XDLM-C4 XMDVM-T7.1W XDL-B XUL XULM XDV-u 、膜厚儀。
