詳細摘要: 美國bowman半導體膜厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結...
產品型號:所在地:深圳市更新時間:2018-05-15 在線留言深圳市金東霖科技有限公司
您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
儀表網 設計制作,未經允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼