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測頭類型 | Leeb230 | Leeb231 | Leeb232 | |||
測頭類型 | F1 | N1 | F1或N1 | |||
工作原理 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應或電渦流 | |||
測量范圍 | 0~1000μm | |||||
低限分辨率 | 0.1μm | |||||
示值誤差 | 一點校準 | ±（3%H+1） | ||||
二點校準 | ±[（1~3%)H+1] | |||||
測試條件 | zui小曲率半徑mm | 凸1.5、凹9 | ||||
zui小面積直徑mm | Φ7 | |||||
基本臨界厚度mm | 0.5 | |||||
工作環境 | 溫度 | 0~40℃ | ||||
濕度 | 20%~90% | |||||
電源 | AA型堿性電池1.5V兩節 | |||||
外殼 | 金屬外殼 | |||||
外形尺寸 | 150×55.5×23mm（主機） | |||||
重量 | 240g | |||||
標準配置 | 主機、標準試片、基體、AA型堿性電池 | |||||
選配 | - | - | 多種探頭 | |||
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