高溫老化試驗(yàn)室系統(tǒng)介紹  

環(huán)境實(shí)驗(yàn)室可為用戶批量檢驗(yàn)、檢測電子電工元器件、零配件或大型部件等提供一個(gè)模擬環(huán)境，為測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和*性（可重復(fù)）提供*條件。該產(chǎn)品具有簡單的操作性能和可靠的設(shè)備性能，便捷操作的計(jì)測裝置，溫度控制器，采用的中文液晶顯示畫面觸摸屏，可進(jìn)行各種復(fù)雜的程序設(shè)定，程序設(shè)定采用對話方式，操作簡單、迅速。整體在客戶方進(jìn)行裝配，運(yùn)輸擺放方便，并在客戶方進(jìn)行現(xiàn)場調(diào)試和驗(yàn)收，保證在客戶方的使用性能；結(jié)構(gòu)一體化程度高，在客戶端裝配調(diào)試時(shí)間短；科學(xué)的空氣流通設(shè)計(jì)，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角；完備的安全保護(hù)裝置，避免了任何可能發(fā)生的安全隱患，保證設(shè)備的*可靠性；每個(gè)產(chǎn)品都根據(jù)客戶的要求訂做，保證了設(shè)備的高效，節(jié)能。 

高溫老化試驗(yàn)室技術(shù)參數(shù)：  

1、型號規(guī)格TH-100工作室尺寸D×W×H450×450×500:mm  

2、溫度范圍：0℃、-20℃、-40℃、-60℃、-70℃～150℃  

3、溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃（空載時(shí)）  

4、溫度均勻度：≤±2℃（空載時(shí)）  

5、升溫速率：1.0～3.0℃/min（升溫速率可按客戶要求特殊定制）  

6、降溫速率：0.7～1.2℃/min（降溫速率可按客戶要求特殊定制）  

7、溫度偏差：≤±2℃  

8、時(shí)間設(shè)定范圍：0～999h  

9、樣品托架：2層（標(biāo)配）   

高溫老化試驗(yàn)室控制系統(tǒng)  

設(shè)置方式：觸摸，點(diǎn)擊  

顯示方式：彩色LCD點(diǎn)陣式觸摸屏中文顯示  

設(shè)定、顯示分辨率:溫度（0.1℃）；時(shí)間（1min）  

圖形顯示：完整顯示設(shè)定程序曲線。  

設(shè)置參數(shù)保存時(shí)間:充滿電后,數(shù)據(jù)可保存5年。  

程序數(shù):1～499（大499個(gè)程序）。  

程序段：每個(gè)程序1～64段；可按組連接運(yùn)行。  

能自動(dòng)提示用戶正確設(shè)置溫度、時(shí)間參數(shù)。  

有的維護(hù)界面，用于調(diào)試設(shè)備和維護(hù)設(shè)備具有程序運(yùn)行保持功能。  

具有程序運(yùn)行等待功能。  

具有程序跳段功能。  

具有程序停止功能。  

有斷電恢復(fù)功能。  

具有運(yùn)行界面鎖定功能。記錄功能：可記錄100天內(nèi)的曲線及實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，可以詳細(xì)查詢100天內(nèi)每一時(shí)刻的溫度度情況，可用USB2.0導(dǎo)出，在PC機(jī)上打印記錄曲線和生成數(shù)據(jù)報(bào)表（相當(dāng)于無紙記錄儀的功能）具有開機(jī)故障自檢功能。  

計(jì)算機(jī)監(jiān)控系統(tǒng)：控制系統(tǒng)通過計(jì)算機(jī)以太網(wǎng)通訊接口，可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸及監(jiān)控功能。  

注：并提供日后軟件免費(fèi)升級  

高溫老化試驗(yàn)室風(fēng)道系統(tǒng)  

為保證較高的均勻度指標(biāo)，試驗(yàn)箱設(shè)有內(nèi)部循環(huán)送風(fēng)系統(tǒng)及風(fēng)道。工作室一端的風(fēng)道夾層內(nèi)，分布加熱器、風(fēng)葉等裝置。采用多臺風(fēng)機(jī)使箱內(nèi)空氣循環(huán)，當(dāng)風(fēng)機(jī)運(yùn)行時(shí)，將工作室中空氣從下部吸入風(fēng)道內(nèi)，經(jīng)加熱后從均勻地吹出，在工作室中與試品交換后的空氣再被吸入風(fēng)道內(nèi)，反復(fù)循環(huán)，從而達(dá)到溫度設(shè)定要求

高溫老化試驗(yàn)室參照標(biāo)準(zhǔn)

本試驗(yàn)箱符合GB/T2423.1 低溫試驗(yàn)方法、GB/T2423.2高溫試驗(yàn)方法。GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)法 、GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法。

GJB 150.3高溫試驗(yàn)；GJB 150.4 低溫試驗(yàn)；

GB10588-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14標(biāo)準(zhǔn)中所要求的試驗(yàn)