一、抗干擾介損測試儀概況
本儀器是一種*的測量介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗*力強， 測試時間短等優點，是我廠的第三代抗干擾介質損耗測試儀。
二、抗干擾介質損耗測試儀技術指標
1、環境：-5℃～40℃（液晶屏應避免長時間日照）
2、相對濕度：30%～70%
3、供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±1Hz
4、外形尺寸：長*寬*高=500mm*300mm*400mm
5、重量：28kg
6、輸出功率：1.5KVA
7、顯示分辨率：3位、4位（內部全是6位）
8、測試方法：正接法、反接法、外接試驗電壓法
9、測量范圍：內接試驗電壓：≤60000PF（10KV電壓大于30000PF）
外接試驗電壓：由外接試驗變壓器輸出功率而定
10、基本測量誤差：
介質損耗（tgδ）：1%±0.04%
電容容量（Cx）：1%±1pF

關鍵詞：抗干擾介質損耗測試儀，抗干擾介損測試儀，介損測試儀

三、結構
儀器為升壓與測量一體化結構，輸出電壓2.5KV～10KV五檔可調，以適應各種需要，在測量時無需任何外部設備。接線與QSI電橋相似，但比其方便。