詳細摘要: 掃描型膜厚測試儀全自動,超快速,高精準等膜厚表征繪制和膜厚涂覆的光學特性,利用光學反射方法來測量和自動分析薄膜涂層的表征。
產品型號:所在地:北京市更新時間:2025-05-18 在線留言北京中兆國儀科技有限公司
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