詳細(xì)摘要： 干涉儀
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詳細(xì)摘要： zygo白光干涉儀是用以對各種各樣高精密元器件表層開展氧化硅精確測量的儀器設(shè)備，它要以白光干涉技術(shù)性為基本原理，燈源傳出的光歷經(jīng)擴束準(zhǔn)直后經(jīng)光度計棱鏡后分為兩束...
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詳細(xì)摘要： 英國泰勒粗糙度儀DUO通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進(jìn)行測量，其設(shè)計可滿足不同的技術(shù)與工作環(huán)境要求
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詳細(xì)摘要： 干涉儀是運用干預(yù)基本原理精確測量光程之差進(jìn)而測量相關(guān)靜電力常量的光學(xué)設(shè)備
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詳細(xì)摘要： 粗糙度儀又叫表面粗糙度儀、表層光滑度儀、粗糙度檢查儀、粗糙度測量儀、表面粗糙度計、表面粗糙度檢測儀等幾種名字
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詳細(xì)摘要： 1.泰勒圓度儀參數(shù)和定義參考參考圓是用某類標(biāo)準(zhǔn)配對精確測量信息獲得的有關(guān)圓，上述參考圓測算獲得圓度的相關(guān)主要參數(shù)
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