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對于電容器的質量至關重要的數(shù)據(jù)是：
電容
損耗因子（取決于頻率！！）
串聯(lián)電阻（正如我們在其他文件中所解釋的那樣，無法正確測量串聯(lián)電阻）
三者中的任何一個都依賴于相同類型的測量：
如果使用通用低信號測量電橋，則電橋采用四點測量方法工作：電流由“被測設備 (DUT)"上的兩個獨立點產生“，電壓是由兩個不同的單獨點測量的。通用測量電橋比較電壓和電流讀數(shù)之間的相應相位，并根據(jù)這些讀數(shù)計算上面列出的三個值。這種四點測量至少可以在很大程度上抵消測量電纜造成的畸變。
請注意，MKP 電力電容器本質上具有非常低的串聯(lián)電阻和非常低的損耗因數(shù)；因此，使用低信號測量設備進行此類測量總是很困難，并且總是存在大量潛在的讀數(shù)錯誤和失真。無論讀取哪一個值，都始終存在讀取錯誤的風險，并且值也會存在相當大的變化。
在型式試驗中，我們使用經(jīng)過校準的高精度儀器，例如TETTEX測量電橋。但請注意，這些不是低信號測量電橋！但即使這些設備也存在讀取錯誤的風險。
如果客戶堅持，可以選擇使用如此高精度的設備在電源頻率下測量一些電容器。然而，我們必須指出，我們并沒有使用高精度實驗室儀器來測量批量生產的所有電容器。這在常規(guī)生產中是不可能的。對于我們的生產例行測試，我們使用 100Hz 的 AGILENT 4263B 型小信號測量電橋。然而，在我們的常規(guī)生產中，我們認為所有電容器“通過"且保持在規(guī)定的限制水平內。對于一些客戶和“他們的"電容器，我們根據(jù)他們的要求出具一般測試報告，其中列出了極限值供客戶參考。
我們了解客戶要求手頭有一些測量結果，以證明電容器狀況良好。然而，通過合理的技術手段無法實現(xiàn)串聯(lián)電阻和損耗因數(shù)tanδ這兩個關鍵特征的測量；我們必須承認，使用常用設備無法給出足夠準確的結果。
按照我們的閾值實踐進行的粗略測量可以提供一定的保證，但也存在測量誤差的風險，并可能再次產生誤導。
自20世紀30年代末以來，東圖林根州一直在開發(fā)和制造電容器。ELECTRONICON是高品質電容器專家，其產品用于功率因數(shù)校正、諧波濾波器、能量傳輸、驅動技術和中間電路，以及許多其他交流和直流應用。憑借其電容器生產，ELECTRONICON成為格爾恩豪森SYSTEMELECTRIC集團中最大的公司。
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