目錄:中山市鑫天溯技術(shù)有限公司>>膜厚儀>>鍍層檢測(cè)儀器>> THICK800A鍍層檢測(cè)儀器x射線測(cè)厚儀 膜厚計(jì)
| 參考價(jià) | ￥ 128000 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
| ￥128000 |
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更新時(shí)間：2024-01-04 09:18:29瀏覽次數(shù)：8149評(píng)價(jià)
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| 測(cè)量范圍 | 硫(S)到鈾（U）。 | 測(cè)量精度 | 0.005mm |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
| 外形尺寸 | 500(W)×350(D)×140(H) mmmm | 重量 | 90kg |
| 同時(shí)可以分析 | 30種以上元素，五層鍍層。 | 分析含量一般為 | ppm到99.9%? |
| 鍍層厚度一般在 | 50μm以內(nèi)（每種材料有所不同） | 度適應(yīng)范圍為 | 15℃至30℃。 |
| 電源: | ?交流220V±5V,?建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。 |
元素成分分析:
鍍液分析，目前常見鍍液元素分析有：金、銀、錫、銅、鎳、鉻、鋅。
ROHS 和無鹵檢測(cè)，高性能SDD探測(cè)器可以檢測(cè)無鹵,實(shí)現(xiàn)鍍層與 一機(jī)多用。
金屬成分分析，在檢測(cè)ROHS同時(shí)可檢測(cè)金屬中其他各元素成分含量。
檢測(cè)精度：
Cr，Cd，Hg，Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金屬
檢測(cè)限達(dá)1ppm。
對(duì)這些金屬測(cè)試分析穩(wěn)定的讀取允許差值本儀器已達(dá)到下列標(biāo)準(zhǔn)：
A. 檢測(cè)含量大于5%的元素穩(wěn)定的測(cè)試讀取相對(duì)差值小于1%
B. 檢測(cè)含量在0.5～5%的元素穩(wěn)定的測(cè)試讀取相對(duì)差值小于2%
C. 檢測(cè)含量在0.1～0.5%的元素穩(wěn)定的測(cè)試讀取相對(duì)差值小于5%
D. 檢測(cè)含量低于0.1%的元素測(cè)試讀取相對(duì)差值變化率小于10%
測(cè)量精度:
1）精度(單層)：
測(cè)厚儀的檢測(cè)精度表
| Ni層厚度(um) | 保證精度 |
| <1.0um | <5% |
| 1.0-5.0um | <3% |
| 5.0-10um | <3% |
| 10-20um | <3% |
| >20.0um | <3% |
鍍層檢測(cè)：
常見金屬鍍層有：
| 鍍層 基體 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh | |
| Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
| Cu | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
| SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
單層厚度范圍：
金鍍層0－8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內(nèi)，
可 小測(cè)量達(dá)0.001um。
多層厚度范圍:
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
鍍層層數(shù)為1-6層
鍍層精度相對(duì)差值一般<5%。
鍍層成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。
鍍層分析優(yōu)勢(shì)：分析PCB金手指 小尺寸可達(dá)0.2mm
單層分析精度，以Ni舉例：（相對(duì)差值）
安全使用,維護(hù)與保養(yǎng)
由于儀器非常精密，未經(jīng)允許情況請(qǐng)不要打開儀器外殼，不要對(duì)X射線源和探測(cè)器進(jìn)行改變，由用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負(fù)責(zé)任。
儀器安裝一定要平穩(wěn)，儀器后面離墻距離不得小于30厘米，必須使用標(biāo)準(zhǔn)的220V交流電，電壓不穩(wěn)情況要配備穩(wěn)壓電源，插座必須接地良好，由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負(fù)責(zé)。
請(qǐng)不要用濕的手觸摸電源部分，帶水的手也不要碰儀器外殼以免發(fā)生觸電。
進(jìn)行測(cè)量時(shí)，因?yàn)楦唠妷毫髦罼射線源，儀器運(yùn)行時(shí)，不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動(dòng)運(yùn)行或者遵循用戶指南中止。
儀器環(huán)境要求：儀器使用環(huán)境需清潔，溫度適宜15℃~30℃，濕度≤80%,電源：AC: 220V ±5V。
以上細(xì)節(jié)均有可能造成無法預(yù)測(cè)后果，買方應(yīng)予以基本遵守。
| Ni層厚度(um) | 保證精度 |
| <1.0um | <5% |
| 1.0-5.0um | <3% |
| 5.0-10um | <3% |
| 10-20um | <3% |
| >20.0um | <3% |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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