詳細摘要: *平行平晶是以光波干涉原理為基礎,利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度
產品型號:所在地:上海更新時間:2022-08-15 在線留言明茲精密儀器(上海)有限公司
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