詳細摘要: 光子輻射顯微鏡是為集成電路失效分析設計的Photoemission光子輻射定位系統,,可采集集成電路背部發射的紅外光子,觀察分析半導體的光子輻射,進而對半導體集...
產品型號:FPALP-Photoemission所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言孚光精儀(中國)有限公司
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詳細摘要: 光子輻射顯微鏡是為集成電路失效分析設計的Photoemission光子輻射定位系統,,可采集集成電路背部發射的紅外光子,觀察分析半導體的光子輻射,進而對半導體集...
產品型號:FPALP-Photoemission所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言詳細摘要: 熱激光激發顯微鏡采用ThermalLaserStimulation-TLS技術,配備高清光學顯微鏡和高功率激光器,高精度聚焦定位集成電路板元器件進行失效分析
產品型號:FPALP-TLS所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言詳細摘要: 這款高功率光纖激光放大器采用摻Yb微結構光纖技術和全固態激光設計,結構緊湊而具有良好的激光穩定性,適合搭建光纖激光放大實驗
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產品型號:FPALP-COMBINER所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言詳細摘要: 形貌輪廓激光顯微鏡是采用激光顯微鏡技術的表面輪廓形貌儀器,具有白光共聚焦,激光共聚焦,差分干涉對比,白光干涉,相移干涉法和光譜反射薄膜厚度測量6種表面形貌輪廓測...
產品型號:所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言詳細摘要: 三維表面輪廓儀價格是德國進口的高精度多功能表面輪廓測量儀器,也是一款光學輪廓儀,非常適合對表面幾何形狀和表面紋理分析,以標準方案或定制性方案對2D輪廓或三維輪廓...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2019-08-21 在線留言詳細摘要: 掃描電鏡探測器價格是*的BSE探測器或背散射電子探測器,為掃描電子顯微鏡提供的信噪比和超高的分辨率,是SEM探測器中的產品。這款掃描電鏡探測器適合所有的商用掃描...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2019-08-21 在線留言詳細摘要: 納米硬度計價格是進口納米硬度測試儀和納米硬度測量儀,通過掃描材料表面實現對材料力學性能的納米尺度的高精度測量,精確測量納米硬度,彈性模量,楊氏模量等材料力學性能...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2019-08-21 在線留言詳細摘要: 反射式光譜橢偏儀價格具有250-1000nm的波長范圍,可與顯微分光光度計聯合使用,測量極小斑點的薄膜厚度和折射率,可廣泛用于MEMS,半導體晶圓等領域,是反射...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2019-08-21 在線留言詳細摘要: 手動光譜橢偏儀價格是一種手動變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍,手動改變入射角。手動spectroscopic ellipso...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2019-08-21 在線留言詳細摘要: 大型光譜橢偏儀價格提供更為安全的樣品操作和定位,具有250-850nm的波長范圍,是美國Angstrom公司為大尺寸樣品薄膜厚度測量而設計的美國進口光譜橢偏儀,...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2019-08-21 在線留言詳細摘要: 光伏太陽能光譜橢偏儀價格是專業為光伏太陽能領域的薄膜測量而開的手動光伏橢偏儀,這款光伏太陽能光譜橢偏儀為光伏薄膜測量研究提供便利,具有實時測量薄膜厚度和薄膜厚度...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2019-08-21 在線留言詳細摘要: 手動低價光譜橢偏儀價格它采用手動改變測角計入射角技術,相比于自動改變入射角的自動光譜橢偏儀價格更低。橢圓偏振技術是通過研究光束在樣本表面反射后偏振態變化而獲得表...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2019-08-21 在線留言詳細摘要: 高級自動光譜橢偏儀價格是自動變角橢偏儀,能夠自動改變測角計入射角的spectroscopic ellipsometer,角度改變步進高達0.01度,光譜范圍覆蓋...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2019-08-21 在線留言詳細摘要: 顯微薄膜測量儀價格是一款多功能薄膜測厚儀和顯微分光光度計,可以結合顯微鏡測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率以及測量薄膜熒光。這款顯微薄膜測試儀通過測...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2019-08-21 在線留言詳細摘要: 寬帶光學薄膜測厚儀價格是一款低價臺式光學薄膜厚度測量儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光等,這款寬帶光學薄膜厚度測量...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2019-08-21 在線留言詳細摘要: 薄膜厚度均勻性測量儀價格采用光譜反射計技術測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數,獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數。
產品型號:所在地:上海市更新時間:2019-08-21 在線留言詳細摘要: 薄膜厚度繪圖儀價格這款薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數,對整個面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2019-08-21 在線留言詳細摘要: 光學薄膜測厚儀價格采用光譜反射計技術測量薄膜反射光譜進測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數,非常適合日常已知膜系膜堆測量。這款光學薄膜測厚儀具有較長工作距離,工作...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2019-08-21 在線留言詳細摘要: 薄膜溶解測厚儀價格用于實時監測薄膜在液體中薄膜厚度變化和光學常量(n, k)變化,是*的薄膜溶解測量儀和薄膜溶解測試儀。為了這種特色的測量,我們特意為薄膜溶解測...
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