詳細摘要： 大面積掃描開爾文探針系統能夠在垂直方向移動開爾文探針實現電動控制開爾文探針與樣品的距離
產品型號：FPANF-AFT-KP150所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言孚光精儀（中國）有限公司
孚光精儀（中國）有限公司
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詳細摘要： 大面積掃描開爾文探針系統能夠在垂直方向移動開爾文探針實現電動控制開爾文探針與樣品的距離
產品型號：FPANF-AFT-KP150所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款單點開爾文探針系統用于室溫條件和普通實驗室條件下的開爾文掃描探針系統,KelvinProbeSystem.它具有極為緊湊結構，可安放到各種環境箱或防塵罩中
產品型號：FPANF-Kelvin所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款自動光譜橢偏儀M300是一種自動變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍，并具有自動改變入射角的功能
產品型號：FPANG-SE200BA-M300所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長范圍，可與顯微分光光度計聯合使用，測量極小斑點的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導體晶圓等領域,...
產品型號：FPANG-SE200BA-MSP所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款手動光譜橢偏儀是一種手動變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍，手動改變入射角
產品型號：FPANG-SE200BM-M300所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款大型光譜橢偏儀SE200BM-M450具有450mm直徑樣品臺，提供更為安全的樣品操作和定位，具有250-850nm的波長范圍，是美國Angstrom公司為...
產品型號：FPANG-SE200BE-M450所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款光伏太陽能光譜橢偏儀專業為光伏太陽能領域的薄膜測量而開的手動光伏橢偏儀，這款光伏太陽能光譜橢偏儀為光伏薄膜測量研究提供便利，具有實時測量薄膜厚度和薄膜厚度繪...
產品型號：FPANG-SE200BE-solar所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款手動低價光譜橢偏儀是高性價比手動橢偏儀,它采用手動改變測角計入射角技術,相比于自動改變入射角的自動光譜橢偏儀價格更低
產品型號：FPANG-SE300BE所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款高級自動光譜橢偏儀是自動變角橢偏儀,能夠自動改變測角計入射角的spectroscopicellipsometer,角度改變步進高達0.01度，光譜范圍覆蓋2...
產品型號：FPANG-SE500BA所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款顯微薄膜測量儀是一款多功能薄膜測厚儀和顯微分光光度計，可以結合顯微鏡測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率以及測量薄膜熒光
產品型號：FRANG-MSP300所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款寬帶光學薄膜測厚儀是一款低價臺式光學薄膜厚度測量儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光等，這款寬帶光學薄膜厚度測量...
產品型號：FRANG-SR500所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款薄膜厚度均勻性測量儀采用光譜反射計技術測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數
產品型號：FPANG-SRM100所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數，對整個面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數
產品型號：FPANG-SRM300所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款光學薄膜測厚儀采用光譜反射計技術測量薄膜反射光譜進測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數，非常適合日常已知膜系膜堆測量
產品型號：FRANG-SR100所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 鏡片透光率測試儀是一款眼鏡鏡片透光率測量儀器,廣泛用于薄膜透光率測試,比如LED擴散板透光率測試,鏡頭透光率測試,玻璃透過率測試,隔熱紙材料透過率測試
產品型號：FPASP-TSM-01所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款薄膜溶解測厚儀用于實時監測薄膜在液體中薄膜厚度變化和光學常量（n,k)變化，的薄膜溶解測量儀和薄膜溶解測試儀
產品型號：FPTHE-FR-liquid所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款便攜式薄膜測厚儀便攜式光學薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等
產品型號：FPTHE-FR-pOrtable所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款聚合物薄膜測厚儀用于測量polymerfilms(聚合物薄膜、有機薄膜、高分子薄膜）和photoresistfilms（光致抗蝕劑薄膜,光刻膠膜,光刻薄膜,...
產品型號：FPTHE-FR-Thermal所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款晶圓自動四探針電阻率計是四點探針型的半導體晶圓和電阻薄膜的電阻率特性測量儀器，它采用微處理器電路直接計算出V/I數值，表面電阻率,薄片電阻率,晶片電阻率,金...
產品型號：FPMIL-FPP-5000所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款玻璃翹曲度測量儀是大尺寸玻璃彎曲度測量儀和玻璃彎曲度測試儀,廣泛用于翹曲度測量,彎曲度測量,表面形貌測量和鍍膜測量等
產品型號：FPZEB-P-1E所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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