共焦顯微拉曼光譜儀：
主要特點：
1、靈敏度遠高于其它同類拉曼譜儀，模塊化設計，波長可任意選擇，配置靈活， 升級容易。
2、所有傳動部件均采用光柵尺閉環控制，儀器精度和重復性比其它同類光譜儀 提高了一個數量級。
3、可一次連續掃描大范圍的拉曼光譜（），無需接譜，無需使用低分辨率 光柵。
4、受保護的的顯微共焦系統，可連續調節共焦深度，并大大提高了儀 器的光通量和穩定性。
5、受保護的拉曼或熒光信號一次直接成像，迅速獲得材料的空間分布。
原子力顯微鏡：
主要特點：
Bruker Dimension® Icon™ 原子力顯微鏡為工業界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的 AFM 應用體驗，其測試功能強大，操作簡便易行。仍然以世界上應用泛的 AFM 大樣品平臺為基礎，齊集 Dimension 系統數十年的技術經驗，廣大客戶反饋，結合工業領域的設備需求，進行全面革新。全新的系統設計，實現了的低漂移和低噪音水平，現在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。
Dimension® Icon™優秀的圖像分辨率，與 Bruker *的電子掃描算法相結合，顯著提升了測量速度與質量。Dimension®系列大樣品臺原子力顯微鏡始終處于行業地位，的 Dimension® Icon™是針尖掃描技術的又一次革新，配置溫度補償位置傳感器，實現了 Z 軸亞埃級和 XY 軸埃級的低噪音水平，將其應用在90 微米掃描范圍的大樣品臺體系上，效果甚至優于高分辨小樣品臺 AFM 的開環噪音水平。全新設計的 XYZ 閉環掃描頭，即使在較高的掃描速度工作時，也不會損壞圖像質量，實現了更大的數據采集輸出量。
拉曼-原子力顯微鏡聯用系統：
您可以將inVia拉曼的能力與掃描探針顯微鏡（SPM和AFM）聯用，在納米尺度上研究材料的組成、結構和特性。
聯用系統優勢：
原位測量。無需在不同儀器之間移動樣品，節約時間，保證正確的分析區域。
inVia和SPM/AFM可同時作為獨立系統使用，而不會影響兩者的任何性能。
得到豐富的樣品信息。使用AFM記錄樣品的形貌及相關物理特性。增加拉曼分析樣品化學信息的能力，以識別材料和非金屬化合物。
可實現針尖增強拉曼測量（TERS），獲得納米尺度的化學信息。
選擇系統：
雷尼紹特殊設計的靈活的耦合臂可以用于將inVia與SPM或AFM光學整合。inVia具有極大的靈活性，能夠將其直接耦合到如下供應商的各種AFM和SPM上：
· Bruker Nano Surfaces
· Nanonics
· NT-MDT
· JPK
· Par
