詳細(xì)摘要： 非接觸式硅片厚度測(cè)量儀SIT-200由精確可調(diào)激光光源，聚焦傳感器，光學(xué)接收器組成。波長掃描光聚焦照射到目標(biāo)上，由目標(biāo)表面和背面反射光干涉形成干涉圖案，經(jīng)過聚焦...
產(chǎn)品型號(hào)：SIT-200所在地：上海更新時(shí)間：2022-11-04 在線留言
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詳細(xì)摘要： 非接觸式硅片厚度測(cè)量儀SIT-200由精確可調(diào)激光光源，聚焦傳感器，光學(xué)接收器組成。波長掃描光聚焦照射到目標(biāo)上，由目標(biāo)表面和背面反射光干涉形成干涉圖案，經(jīng)過聚焦...
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