當前位置：深圳市泰立儀器儀表有限公司>>計量測試儀器>>粗糙度儀>> 北京時代TA620測量(微調)平臺北京時代TA620測量(微調)平臺
北京時代TA610\620\630\631測量(微調)平臺簡介： |
TA610測量平臺，齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來測量不容易放置的工件，可提高測量精度。 相關儀器：溫度計 , 推拉力計 , 附著力測試儀 , 超聲波測厚儀 , 硬度計 , 電子天平 , 激光測距儀 |
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