【儀表網(wǎng) 儀表標(biāo)準(zhǔn)】近日，由廣州海關(guān)技術(shù)中心、冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院、攀鋼集團(tuán)攀枝花鋼鐵研究院有限公司、鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司等單位起草完成的《鐵礦石 波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜儀 精度測(cè) 定》完成草案編制，并公開征求意見，截止時(shí)間為2021年10月12日。
 

　　波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀是X射線光譜儀的兩大分類之一，適用于各種固體材料或液體，如金屬、玻璃、陶瓷、巖石、礦物、燃油、水質(zhì)及沉積物的定量分析及未知樣品的無(wú)標(biāo)樣半定量分析，廣泛應(yīng)用于鋼鐵、冶金、石化、地質(zhì)、環(huán)保、材料、電子等領(lǐng)域。
 

　　與只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件能量色散X射線熒光光譜儀相比，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀的主要部件還包括分光晶體和測(cè)角儀，雖然靈敏度更高，但是結(jié)構(gòu)更復(fù)雜，在測(cè)定時(shí)對(duì)精度的影響因素更多。
 

　　為確保使用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀測(cè)定鐵礦成分的準(zhǔn)確性，由澳大利亞專家Mr.Mark Fritz和 Philip Wood提出制定國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(技術(shù)報(bào)告)ISO/TR 18231:2016(E) 《Iron ores - Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometers - Determination of precision》(鐵礦石 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀 精度的測(cè)定)，其藍(lán)本是澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)AS 2563-1996 《 Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometers —Determination of precision》(波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀 精度的測(cè)定)。
 

　　如果要使用 X 射線熒光光譜儀進(jìn)行精確分析，需要光譜儀各部件符合要求正常運(yùn)行，也就是說(shuō)，與儀器各種功能相關(guān)的誤差必須非常小。因此，對(duì)光譜儀進(jìn)行測(cè)試以確保它確實(shí)可以提供所需的精度是非常重要。X 射線熒光光譜儀主要用于定量分析，各種應(yīng)用中所需要的精密度有很大差別。本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的目標(biāo)是建立的測(cè)試方法用于測(cè)量與光譜儀某些部件操作相關(guān)的誤差，這些測(cè)試不用于確定儀器是否處于最佳運(yùn)行狀態(tài)，而是要確定儀器是否能夠提供預(yù)選的精度。
 

　　為確保 X 射線熒光光譜儀給出結(jié)果的準(zhǔn)確性和采標(biāo)的進(jìn)度，國(guó)家下達(dá)了《鐵礦石 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀 精度的測(cè)定》標(biāo)準(zhǔn)修訂計(jì)劃。本標(biāo)準(zhǔn)描述了一種應(yīng)用于波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀的測(cè)試方法，以確保光譜儀能夠進(jìn)行精確的分析。
 

　　本標(biāo)準(zhǔn)是針對(duì)波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜儀精度領(lǐng)域所涉及的測(cè)試項(xiàng)目，明確這些項(xiàng)目的定義和基本概念，達(dá)到應(yīng)用規(guī)范化、統(tǒng)一化、標(biāo)準(zhǔn)化，消除歧義的目的，這些項(xiàng)目包含：計(jì)數(shù)器的分辨率(流氣式正比計(jì)數(shù)器、爍計(jì)數(shù)器和封閉式正比計(jì)數(shù)器)、流氣式正比計(jì)數(shù)器窗膜電導(dǎo)率、脈沖漂移校正、光譜儀[精密度、測(cè)試樣品、儀器條件、穩(wěn)定性、樣品旋轉(zhuǎn)測(cè)試、轉(zhuǎn)盤再現(xiàn)性試驗(yàn)、安裝和加載再現(xiàn)性、樣品杯、轉(zhuǎn)盤位置、角度重現(xiàn)性、準(zhǔn)直器的重現(xiàn)性、探測(cè)器更換再現(xiàn)性、晶體轉(zhuǎn)換重現(xiàn)性、其他項(xiàng)目測(cè)試(包括初級(jí)濾光片、準(zhǔn)直器孔徑、衰減器)、玻璃熔片曲率]、設(shè)備靜止時(shí)間和最大可用計(jì)數(shù)率等。
 

　　本標(biāo)準(zhǔn)所建立的測(cè)試方法用于測(cè)量與光譜儀某些部件操作相關(guān)的誤差。這些試驗(yàn)方法不是用于檢查光譜儀的每個(gè)部件，而是只檢查那些可能帶來(lái)常見誤差源的部件。假定儀器的性能已根據(jù)制造商的說(shuō)明進(jìn)行了優(yōu)化。對(duì)于所有測(cè)試，應(yīng)仔細(xì)設(shè)置2θ角度以便于測(cè)量光譜線。脈沖高度窗口應(yīng)根據(jù)制造商的說(shuō)明設(shè)置，并且應(yīng)具有較寬的設(shè)置，其中還包括氣體比例計(jì)數(shù)器的逃逸峰值。儀器和探測(cè)器氣體環(huán)境應(yīng)符合制造商的要求，儀器的電源也應(yīng)符合要求。
 

　　本標(biāo)準(zhǔn)適用于波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀精度的測(cè)定。