儀表網訊 安捷倫科技公司日前推出新的X系列測量應用軟件，鞏固了其在LTE-Advanced測量領域中的。該應用軟件針對LTE-Advanced FDD和TDD發射機和元器件提供符合新3GPP第11版標準的全面的射頻一致性測試。該測量應用軟件既適用于臺式測試儀表，也適用于模塊化測試儀器。
LTE-Advanced是LTE標準發展的演進。在整個LTE開發周期內執行準確的測試與測量，這對于LTE-Advanced的成功推廣仍然是至關重要的。安捷倫之前推出的業界的LTE-Advanced信號分析儀和信號生成解決方案在研發階段解決了這一問題?，F在安捷倫推出的新嵌入式LTE-Advanced X系列測量應用軟件能夠在設計驗證與生產制造階段更好的解決這個測試難題。
新LTE-Advanced測量應用軟件為Agilent X系列和模塊化信號分析儀提供一鍵式測量。該應用軟件測量速度快、操作簡單，可進行SCPI編程、執行合格/不合格測試，是設計驗證和生產制造的理想工具。
安捷倫副總裁兼微波與通信事業部總經理Andy Botka說：“LTE-Advanced發射機和元器件的驗證與生產制造要求使用業內的解決方案。憑借安捷倫在前沿無線技術標準開發領域中的出眾經驗，這款支持3GPP第11版標準的新嵌入式測量應用軟件將會快速準確的幫助我們的客戶進行深入分析，信心十足地面對LTE-Advanced無線測試。”
更加簡單的射頻一致性測試
Agilent LTE-Advanced 測量應用軟件根據3GPP第11版標準的定義，可在LTE-Advanced發射機的連續和非連續配置下執行業內全面的射頻一致性測試。該應用軟件支持的測量包括：發射機輸出功率測試、發射信號質量測試、基站和用戶設備的多余輻射測量。
該測量應用軟件還針對帶內非連續載波聚合提供累積ACLR（CACLR）和累積頻譜輻射模板（SEM）測量——這是3GPP第11版提出的新要求。由于在標準中規定sub-block間隙中的頻譜可額外部署，帶內非連續載波聚合配置引入了多余輻射測量的特殊挑戰，新增了CACLR要求和特殊的SEM測量模板。新LTE-Advanced測量應用軟件是市場上一款針對非連續載波聚合提供CACLR和特殊SEM模板的解決方案。
X系列測量應用軟件
X系列測量應用軟件能夠提高安捷倫信號分析儀的能力和功能，加快分析速度。測量應用軟件可為蜂窩通信、無線連通性、數字視頻和通用應用等方面的特定任務提供關鍵測量，覆蓋了40多種標準或調制類型。該應用軟件適用于臺式測量儀表和模塊化測試儀器，的不同是儀器硬件實現的性能水平。選擇適合您應用的性能水平，充分確保從開發到生產制造過程中信號分析儀始終保持一致的計算和算法。
