【儀表網(wǎng) 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)】近日，深南電路股份有限公司、南通深南電路有限公司、無錫深南電路有限公司、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、深圳市美信檢測(cè)技術(shù)股份有限公司等單位發(fā)布了《T/CSTM 01024—2023 導(dǎo)電陽(yáng)極絲熱成像輔助定位失效分析方法》，實(shí)施日期2023年9月21日。
 

　　本文件參照 GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第 1 部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》，GB/T 20001.4—2015《標(biāo)準(zhǔn)編寫規(guī)則 第 4 部分：試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)》的規(guī)定起草。
 

　　本文件規(guī)定了導(dǎo)電陽(yáng)極絲熱成像輔助定位失效分析方法的原理、試驗(yàn)條件、儀器設(shè)備、試劑和材料、樣品、試驗(yàn)步驟以及試驗(yàn)報(bào)告的要求。本文件適用于導(dǎo)電陽(yáng)極絲試驗(yàn)過程中/后絕緣阻值低于108Ω的印制板。
 

　　原理：
 

　　CAF 失效導(dǎo)致絕緣電阻降低，通電時(shí)會(huì)因?yàn)榘l(fā)熱產(chǎn)生微弱的紅外能量，高靈敏度的紅外探測(cè)器能夠捕捉熱源產(chǎn)生的位置，精確定位故障。紅外系統(tǒng)結(jié)合鎖相技術(shù)硬件和軟件特殊算法，通過給樣品連接脈沖電源，提供周期性的熱激勵(lì)源，若樣品存在缺陷，缺陷處的熱量會(huì)被周期性的傳導(dǎo)到樣品表面，樣品表面溫度分布將發(fā)生周期性變化，結(jié)合算法可以檢測(cè)到缺陷對(duì)應(yīng)于樣品表面的位置。
 

　　試驗(yàn)條件：
 

　　除另有規(guī)定外，試驗(yàn)應(yīng)在以下條件下進(jìn)行：
 

　　a) 環(huán)境溫度：15℃~25℃；
 

　　b) 相對(duì)濕度：45%~75%；
 

　　c) 大氣壓力：86KPa~106KPa。
 

　　儀器設(shè)備：
 

　　1.熱成像顯微鏡，具體要求如下：
 

　　a) 包含兩個(gè)探針座的探針臺(tái)，加熱臺(tái)溫度可達(dá) 50℃；
 

　　b)直流電源，可獨(dú)立調(diào)整電流和電壓，測(cè)試電壓最小值為 0.1VDC，限流最小值為 1μA；
 

　　c)探測(cè)器，靈敏度至少達(dá)到 25mK@25℃；
 

　　d) 分析軟件具有鎖相熱成像(Lock-in)功能；
 

　　e)電源方波頻率可設(shè)置 15Hz 以下。
 

　　2.電烙鐵，可加熱至 450℃。
 

　　3.金相濕磨/拋光系統(tǒng)或設(shè)備。
 

　　4.金相顯微鏡。
 

　　5.電子掃描顯微鏡，含有背散射探頭。
 

　　6.能譜儀(Energy Dispersive Spectrometer, EDS)。
 

　　試劑和材料：
 

　　1.牌號(hào)為 Sn63/Pb37 的焊錫絲。
 

　　2.帶有絕緣層的銅導(dǎo)線。
 

　　3.導(dǎo)熱雙面膠。
 

　　4.水晶膠。
 

　　試驗(yàn)報(bào)告：
 

　　試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包括但不限于下列內(nèi)容：
 

　　a)失效分析環(huán)境：環(huán)境溫度、相對(duì)濕度、大氣壓力；
 

　　b)樣品信息：包含但不限于材料型號(hào)和絕緣間距；
 

　　c)儀器設(shè)備：包含但不限于分析設(shè)備品牌和型號(hào)；
 

　　d)測(cè)試信息：包含但不限于測(cè)試電壓、限流和電源方波設(shè)置頻率；
 

　　e)分析結(jié)果：包含但不限于紅外熱點(diǎn)與樣品外觀疊加圖和切片分析圖(注：當(dāng)做了元素成分分析時(shí)，需要將成分分析結(jié)果同步附上)；
 

　　f)試驗(yàn)人員和試驗(yàn)日期。
 

　　更多詳情請(qǐng)見附件。