Nicomp 380 ZLS美國(guó)PSS激光粒度測(cè)定儀，結(jié)合了動(dòng)態(tài)光散射（DLS）和電泳光散射（ELS）的技術(shù)，能同時(shí)實(shí)現(xiàn)檢測(cè)粒徑和Zeta電位的功能，并使用大功率的He-Ne激光光源，為檢測(cè)提供了更高的精確度，真正做到直接檢測(cè)而無(wú)需校正，同時(shí)獲得更高的分辨率及重現(xiàn)性。PSS激光粒度儀可用于*白蛋白納米粒大顆粒*，而且可用于造影劑中氟丙烷氣泡的含量測(cè)定。
技術(shù)參數(shù)：
1.粒徑范圍：< 0.001 -- 5 microns ；Zeta電位粒徑范圍：0.02 -- 20 microns
2.樣品體積：1 mL -- 1.5mL
3.PH范圍：2 --12
4.導(dǎo)電率范圍：10-5 S/m -- 0.2S/m
5.粒徑檢測(cè)角度：12 -150°（默認(rèn)角度90°）；Zeta電位檢測(cè)角度：19°
主要特點(diǎn)：
● 粒徑范圍: 1 nm- 5um
● 測(cè)量 -無(wú)需校正
● 激光光源：15mW、635納米大功率固體紅色發(fā)光二極管
● 樣品類型模式：固體微粒模式、空心囊泡模式
● 分析方法：經(jīng)典的GAUSSIAN分布、技術(shù)的NICOMP多峰分布
● 高分辨率的 Nicomp多組分的樣品分析對(duì)于濃度并非十分敏感
● 溫控范圍：5℃～70℃
● 檢測(cè)角度：標(biāo)準(zhǔn)90度或者多角度(可選配)
● 通道數(shù)： 4096條通道，32位數(shù)字輔助自相關(guān)器。
● 電位場(chǎng)強(qiáng)范圍：*的場(chǎng)強(qiáng)范圍從0.1 –250 V / cm
● 傳導(dǎo)率范圍： 1 E -5 to 0.2S/m
● PH值范圍： 2 - 12 pH
● 尺寸：長(zhǎng)60cmx寬40cmx高20cm
● 機(jī)臺(tái)重量：25公斤
應(yīng)用范圍：制藥業(yè)（注射乳劑、脂質(zhì)體、靜脈注射（USP），粉末）生物技術(shù)（蛋白質(zhì)、大分子、疫苗、病毒），特殊化學(xué)制品（聚合物、顏料、墨水、調(diào)色劑、油墨、陶瓷、油漆），其他如食品，飲用乳劑，化妝品等。
Nicomp 380 Series 納米粒度分析儀選配件
Nicomp 380系列采用*的模塊化設(shè)計(jì)，在實(shí)現(xiàn)粒徑分析功能的同時(shí)，通過(guò)添加其他附加功能模塊，用戶可根據(jù)需要選擇不同的配置。以下是可供選擇的附件：
電位模塊：ZETA電位是確定膠體系統(tǒng)穩(wěn)定性的重要參數(shù)，決定粒子之間的靜電斥力大小，從而影響粒子間的聚集作用及分散系的穩(wěn)定。該模塊使用電泳光散射（ELS）技術(shù)，通過(guò)測(cè)量帶點(diǎn)粒子在外加電場(chǎng)中得移動(dòng)速度，即電泳遷移率推算出ZETA電位，實(shí)現(xiàn)粒子的粒徑與ZETA電位測(cè)定的同機(jī)操作。
自動(dòng)稀釋系統(tǒng)：將初始濃度較高的樣本自動(dòng)稀釋至sensor可檢測(cè)的濃度，可稀釋初始固含量zui高為50%的原始樣品。本附件受保護(hù)，其可免除人工稀釋樣品帶來(lái)的干擾和誤差，次技術(shù)被用于批量進(jìn)樣和在線檢測(cè)的過(guò)程中。
多角度檢測(cè)系統(tǒng)：提供多角度檢測(cè)。使用高精度電機(jī)和針孔光纖技術(shù)可對(duì)散射光的接收角度進(jìn)行調(diào)整，可為微粒粒徑分布提供高分辨率的多角度檢測(cè)。對(duì)高濃度樣品（＜40%）以及大粒子多分散系的粒徑提供了15-175度之間不同角度上的散射光的采集和檢測(cè)。
自動(dòng)進(jìn)樣器，：批量自動(dòng)進(jìn)樣器能實(shí)現(xiàn)zui多76個(gè)連續(xù)樣本的分析而無(wú)需操作人員的干預(yù)。因此它是一個(gè)非常好得質(zhì)量控制工具，能增大樣本的處理量，從而節(jié)省時(shí)間。
大功率激光二極管：使用一系列大功率激光二極管來(lái)滿足更多更苛刻的需求。使用大功率激光照射，以便從小粒子出獲得足夠的散射光。
自動(dòng)滴定模塊：樣品的濃度及PH值是ZETA電位的重要參數(shù)，搭配了瑞士萬(wàn)通的滴定儀進(jìn)行檢測(cè)，真正實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)滴定，自動(dòng)調(diào)節(jié)PH值，自動(dòng)檢測(cè)ZETA電位值，免除了外界干擾和數(shù)據(jù)上的誤差，精確分析出樣品ZETA電位值得趨勢(shì)。
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