博曼臺(tái)式鍍層膜厚儀是一種專門應(yīng)用于半導(dǎo)體材料、電子器件、微電子學(xué)、光通訊和數(shù)據(jù)儲(chǔ)存工業(yè)中的金屬薄膜厚度測(cè)量。測(cè)量更小、更快、更薄MicronX 比現(xiàn)有其它的XRF儀器可以測(cè)量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速。這是由包括準(zhǔn)直器、探測(cè)器、信息處理器和計(jì)算機(jī)等部件在內(nèi)的一整套系統(tǒng)完成的。
博曼臺(tái)式鍍層膜厚儀它的綜合性能有:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層,合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無(wú)需購(gòu)買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來(lái)料的純度.
統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).
產(chǎn)品用途：電鍍層厚度及多鎳鍍層電位測(cè)量
應(yīng)用領(lǐng)域：PCB、LED、航天航海、電子電器、線路板、五金鎖具、
塑膠電鍍、標(biāo)準(zhǔn)件、釹鐵硼、技術(shù)監(jiān)督部門及科研機(jī)構(gòu)。
測(cè)量鍍種：裝飾鉻、鎳、銅、鋅、錫、銀、金、鎘、硬鉻、化學(xué)鎳、多層鎳，
復(fù)合鍍層（如Cr/Ni/Cu）約30幾種鍍層基體組合。如需測(cè)量其他鍍層可事先提出.
鍍層底材：金屬、非金屬、釹鐵硼等
鍍層層數(shù)：?jiǎn)螌蛹皬?fù)合多層
測(cè)量范圍： 13號(hào)~92號(hào)元素（保證精度情況下，更厚鍍層也可測(cè)量）
如果您有什么問(wèn)題或要求，請(qǐng)您隨時(shí)。您的任何回復(fù)我們都會(huì)高度重視。金東霖祝您工作愉快！

二手膜厚儀回收及評(píng)估
專業(yè)從事進(jìn)口X熒光光譜儀 X射線測(cè)厚儀維修校準(zhǔn)的服務(wù)商。提供檢修更換X光管、高壓電源、探測(cè)器、控制電路板等核心部件、并升級(jí)或者以舊換新、以壞換好。
另我們*收購(gòu)/出售二手X射線鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、測(cè)厚儀等分析檢測(cè)儀器。 
售前/售后服務(wù).以及儀器的評(píng)估 高價(jià)回收 換購(gòu) 和 租賃服務(wù)等 
德國(guó)菲希爾 FISCHER  X-RAY XDLM-C4 XMDVM-T7.1W XDL-B XUL XULM XDV-u 、膜厚儀。