平面平晶 型號(hào):DPPM-1
平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。
平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦可用于檢定精度的平面零件,例如,平面光學(xué)零件、平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
平面平晶的參數(shù)
平面直徑d(mm) 基本參數(shù) 1 2 d范圍內(nèi) 2/3d范圍內(nèi) d范圍內(nèi) 2/3d范圍內(nèi) 30 0.03 ---- 0.1 0.05 45 60 80 0.05 0.03 100 150 200 0.08 0.05 0.12 0.06 250 0.1 0.05 0.15 0.08 300 0.15 0.09 0.2 0.1
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