PDL/IL/光功率測試儀（PL2000）
PL2000可以同時快速測試偏振相關(guān)損耗，插損，并且測量光功率。該儀器帶有同步端口，可以和可調(diào)激光器配合進行波長掃描測試。PL2000強大的光損耗測試功能是基于快速偏振掃描（參考TIA/EIA-455-157），使PL2000能夠高精度地迅速完成測試。
特性：
全光纖技術(shù)；
直接掃描法；
同時獲得PDL和IL的測量值；
光學功率儀表功能；
極快的測量速度；
無需校準；
參數(shù)：
| 操作波長范圍 | |
| 偏振相關(guān)損耗 | 1310 ~ 1620 nm |
| 插入損耗 | 1310 nm ，1520 ~ 1620 nm |
| 分辨率 | 0.1 dB, 0.01 dB, 0.001 dB |
| 損耗測量 | |
| 偏振相關(guān)損耗精度 | <=±(0.010 + 5% of PDL) dB maximim <=±(0.010 + 2% of PDL) dB typical |
| 插入損耗 精度 | <=±(0.1 + 2% of IL) dB maximum |
| 損耗 測試速度 | 0.1 sec. Typ. |
| 偏振相關(guān)損耗 范圍 | 0 to 5 dB |
| 插入損耗范圍 | 50 dB |
| 光功率測量 | |
| 光功率測量精度1) | ±0.2 dB @ -10 dBm |
| 功率測量范圍 | +3 dBm to -57 dBm |
| 操作溫度 | 10℃ ~ 40℃ |
| 儲存溫度 | 0℃ ~ 60℃ |
| 體積 (W × H × D) | 225 × 88 × 420 mm |
