概述:
AUTO-JZ010型晶振測試儀是一款用來測試晶振頻率、精度、漂移等指標的通用測試儀器。
儀器采用超高精度的有源溫補晶振作為時間基準；高速ECL電路進行信號的整形、放大、計數 ;單片機進行系統管理及數據處理。儀器自身帶有的Pierce振蕩電路，可以用來直接測試35MHZ以下的無源基頻晶振（超過35M的基頻晶振很少）、以及100MHZ以下的泛音晶振的基頻頻率。另外系統留有“有源晶振”的測試接口，配備相應的附件可用來測試有源晶振；而且系統還設置了外部信號的測量通道，可以擴展作為頻率計使用。
功能及用途
本儀器可直接測量35MHz以下無源晶振的頻率、以及100MHz以下泛音晶振的基頻頻率，可滿足絕大部分晶振測量的需要。（絕大多數的基頻晶振頻率都<35MHz，泛音晶振多為3倍泛音，）。可直接測量插腳封裝晶振，配備“貼片晶振測試座”也可測量貼片封裝晶振；
另外本儀器還留有“有源晶振測試接口”，配備不同規格的“貼片晶振測試座”后可以測量
5v、3.3v、1.8v供電的不同封裝的有源晶振；而且還留有外部信號輸入接口，可以測量其它設備的信號。
該設備可以測量如下類型的參數：
1.頻率
2.周期
3.頻率偏差率
4.頻率漂移率
5.漂移監測時間
主要技術指標：
AUTO-JZ010型晶振測試儀是一款用來測試晶振頻率、精度、漂移等指標的通用測試儀器。
儀器采用超高精度的有源溫補晶振作為時間基準；高速ECL電路進行信號的整形、放大、計數 ;單片機進行系統管理及數據處理。儀器自身帶有的Pierce振蕩電路，可以用來直接測試35MHZ以下的無源基頻晶振（超過35M的基頻晶振很少）、以及100MHZ以下的泛音晶振的基頻頻率。另外系統留有“有源晶振”的測試接口，配備相應的附件可用來測試有源晶振；而且系統還設置了外部信號的測量通道，可以擴展作為頻率計使用。
功能及用途
本儀器可直接測量35MHz以下無源晶振的頻率、以及100MHz以下泛音晶振的基頻頻率，可滿足絕大部分晶振測量的需要。（絕大多數的基頻晶振頻率都<35MHz，泛音晶振多為3倍泛音，）。可直接測量插腳封裝晶振，配備“貼片晶振測試座”也可測量貼片封裝晶振；
另外本儀器還留有“有源晶振測試接口”，配備不同規格的“貼片晶振測試座”后可以測量
5v、3.3v、1.8v供電的不同封裝的有源晶振；而且還留有外部信號輸入接口，可以測量其它設備的信號。
該設備可以測量如下類型的參數：
1.頻率
2.周期
3.頻率偏差率
4.頻率漂移率
5.漂移監測時間
主要技術指標：
| 頻率測量范圍 | 20Hz-100MHz |
| 周期測量范圍 | 1ns-10s |
| 采樣時間（T） | 0.01s、0.1s、1s、10s可調 |
| 頻率分辨率(R.P.) | 1. T=0.01s 時R.P.=100HZ T=0.1s 時R.P.=10HZ T=1s 時R.P.=1HZ T=10s 時R.P.=0.1HZ |
| 基準頻率 | 10MHz |
| 基準精度 | 2ppm |
| 測量精度 | 2.5倍基準精度+1 R.P. |
| 外部輸入信號幅度 | 50mv-10v |
| 環境溫度 | 20±15℃ |
| 電源 | 100-240v、50/60Hz |
| 功耗 | <10W |
