非接觸式膜厚測量儀 E-80
產(chǎn)品描述:
◆非接觸光學測量系統(tǒng)
◆應對各種高反光、高透光材質
◆高速采樣,周期20µs
◆強大的CPK統(tǒng)計功能
◆測量輪廓、斷差、槽深、膜厚等
技術:
◆采用白光共焦技術,分辨率達到納米級,同時采用了光纖傳感器,具有抗干擾、損耗低、安全隔離、可靠性高等優(yōu)點
◆機械精度達到微米級,運行平穩(wěn),跳動小,磨損低
◆Y向自動測量,重復精度1μm
應用:
◆環(huán)氧樹脂測量
◆印刷圖形測量
◆激光打標測量
◆焊膏厚度測量
◆表面膜厚測量
設備技術參數(shù):
項 目 | 技術參數(shù) |
外觀尺寸 | 650mm*500mm*600mm |
測量掃描行程 | 80mm |
Z軸可調行程 | 50mm |
有效測量范圍 | 60mm |
掃描最小步距 | 2um |
掃描速度 | 30mm/s |
測試重復精度 | 20nm(標樣) |
電 源 | AC220V±10%,50-60 Hz |